韓國Micro Pioneer X射線鍍層測厚儀XRF-2000
韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進(jìn)行分析,不單性能*,而且價錢*.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的*.可測量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素范圍：
鈦Ti – 鈾U
可測量厚度范圍：
原子序 22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射線管：油冷,超微細(xì)對焦
高壓：0-50KV程控
準(zhǔn)直器：
固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等,簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).
我們的經(jīng)營理念是:
1．我們以公平的價格提供zui高質(zhì)量的儀器。
2．對顧客提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和*的的設(shè)備。
3．顧客提出的建議和新想法，將被我們采納并作為我們未來的事務(wù)。
4．我們的目標(biāo)和戰(zhàn)略是與企業(yè)建立*并且連續(xù)性的合作伙伴。
十多年來，我們一直服務(wù)于PCB 廠商、電鍍行業(yè)、科研機(jī)構(gòu)及半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)。我們提供的高質(zhì)量產(chǎn)品和服務(wù)都得到顧客zui高的獎勵，在未來,我們將繼續(xù)履行顧客的期望、要求和需要，愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！
