瑞士博勢(shì)Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測(cè)儀
瑞士博勢(shì)Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測(cè)儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
瑞士PROCEQ公司生產(chǎn)的Equotip550是一款基于動(dòng)態(tài)回彈法原理的金屬硬度測(cè)量?jī)x，能夠在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將Leeb關(guān)聯(lián)至PortableRockweLL的實(shí)際壓痕硬度值。結(jié)合EquotipLeeb沖擊裝置可用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。儀器采用新功能觸摸屏裝置,改進(jìn)的軟件可提供互動(dòng)向?qū)?、自?dòng)驗(yàn)證進(jìn)程、個(gè)性化選項(xiàng)和自定義報(bào)告功能。此外，該儀器可兼容后續(xù)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品。Equotip沖擊裝置滿(mǎn)足眾多行業(yè)對(duì)無(wú)損硬度檢測(cè)的要求。
PortableRockwell測(cè)量原理沿用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測(cè)法，該方法非常適用于對(duì)刮擦敏感的、拋光的或細(xì)小的部件，以及對(duì)剖面和管道進(jìn)行檢測(cè)。
瑞士博勢(shì)Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測(cè)儀功能特點(diǎn)：
根據(jù)需要自動(dòng)轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
自動(dòng)更正沖擊方向確保高準(zhǔn)確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時(shí)，準(zhǔn)確度為 0.5%）
測(cè)量應(yīng)用廣，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來(lái)滿(mǎn)足絕大多數(shù)的硬度檢測(cè)要求。
每個(gè)沖擊裝置均可使用硬度應(yīng)用廣和硬度測(cè)試塊，，用于定期驗(yàn)證。
Equotip 550 Touchscreen Unit
模塊化概念： 利用各種型號(hào)的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應(yīng)用
組合法： 在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值
引導(dǎo)向?qū)В?/span> 預(yù)定義工作流以增強(qiáng)進(jìn)程可靠性和提高測(cè)量精度
自動(dòng)驗(yàn)證： 根據(jù) ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗(yàn)證
互動(dòng)指南： 通過(guò)屏幕通知為您的應(yīng)用獲取蕞相關(guān)的設(shè)置
轉(zhuǎn)換曲線(xiàn)： 直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗(yàn)證轉(zhuǎn)換曲線(xiàn)
自定義報(bào)告： 模塊化報(bào)告處理器允許自定義測(cè)量報(bào)告
自動(dòng)選項(xiàng)： 將 NDT 自動(dòng)操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動(dòng)檢測(cè)環(huán)境
外殼經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)，可用于嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽(yáng)蓋
高分辨率彩色顯示屏
電池使用時(shí)長(zhǎng) > 8h
8 GB 閃存
雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口： 探頭連接器、USB 主機(jī)、USB 裝置和以太網(wǎng)
通過(guò)直接兼容后續(xù)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品，實(shí)現(xiàn)未來(lái)保障投資
里氏回彈硬度檢測(cè)主要用于金屬測(cè)量，還可用于復(fù)合材料、橡膠和巖石檢測(cè)
適用于材料挑選、驗(yàn)收和生產(chǎn)環(huán)節(jié)檢測(cè)
適用于重型和大型部件安裝前后的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)
方便用于難進(jìn)入或空間有限的金屬硬度檢測(cè)場(chǎng)地
Proceq 提供一些附件，例如一個(gè)測(cè)量夾或幾個(gè)支撐腳，適合在各種測(cè)試件結(jié)構(gòu)上進(jìn)行手動(dòng)硬度測(cè)量
瑞士博勢(shì)Proceq Equotip 550 Leeb金屬硬度檢測(cè)儀標(biāo)準(zhǔn)：
ASTM A956 / E140 / A370
ISO EN 16859
DIN 50156
GB/T 17394
JB/T 9378
準(zhǔn)則
ASME CRTD-91
DGZfP Guideline MC 1
VDI/VDE Guideline 2616 Paper 1
Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36
瑞士博勢(shì)Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù)：
顯示屏 | 7” 彩色顯示屏 800 x 480 像素 |
內(nèi)存 | 內(nèi)置 8 GB 閃存 |
區(qū)域設(shè)置 | 公制和英制單位，支持多種語(yǔ)言和時(shí)區(qū) |
電池 | 鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah |
電池使用時(shí)長(zhǎng) | > 8h（標(biāo)準(zhǔn)操作模式下） |
電源輸入 | 12 V +/-25 % / 1.5 A |
重量（顯示裝置） | 大約 1525 g（含電池） |
尺寸 | 250 x 162 x 62 mm |
海拔 | 2500 mm 海拔高度 |
濕度 | < 95?%RH，非冷凝 |
操作溫度 | 0°C 至 30°C（32 至 86°F） |
環(huán)境 | 適合室內(nèi)與室外使用 |
IP 等級(jí) | IP 54 |
污染等級(jí) | 2 |
安裝類(lèi)別 | 2 |
| |
測(cè)量范圍 | 1-999 HL |
測(cè)量精度 | ± 4 HL（800 HL 時(shí)為 0.5 %） |
分辨率 | 1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB； |
沖擊方向 | 自動(dòng)補(bǔ)償（DL 探頭除外） |
沖擊能量 | D、DC、E、S 探頭為 11.5 Nmm DL 探頭為 11.1 Nmm C 探頭為 3.0 Nmm G 探頭為 90.0 Nmm |
沖擊體質(zhì)量 | D、DC、E、S 探頭為 5.45 克（0.2 盎司） DL 探頭為 7.25 克（0.26 盎司） C 探頭為 3.10 克（0.11 盎司） G 探頭為 20.0 克（0.71 盎司） |
球壓頭 | C、D、DC 探頭為碳化鎢，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） DL 探頭為碳化鎢，直徑 2.78 毫米 G 探頭為碳化鎢，直徑 5.0 毫米（0.2 英寸） S 探頭為陶瓷，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） E 探頭為多晶金剛石，直徑 |
操作溫度 | –10?C 至 50?C（14 至 122°F） |
保修
電子部件的保修期統(tǒng)一為 2 年
可選擇zui多3年時(shí)間的有償續(xù)保修
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