關鍵詞：煤巖分析儀、煤巖反射率分析、煤巖分析系統、煤巖分析、煤炭分析儀、徠卡煤巖分析儀、蔡司煤巖分析儀、煤質分析儀
德國徠卡專業的煤巖分析儀器，技術服務熱線：
劉經理 霍經理
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1.整個系統的技術條件及功能
煤巖光片制備
煤巖光片的顯微觀察與照相
焦炭光片的顯微觀察與照相
煤巖光片的自動掃描照相功能，照相過程可以實現自動移動樣品和自動調焦，同時可人工干預微調焦距，確保圖像清晰率。速度10-20min/樣，可同時提供鏡質組反射率和煤巖組成活惰比兩項結果。
按照現行GB/T 8899-1998《煤的顯微組分組和礦物測定方法》標準方法進行的煤巖顯微組分的定量統計測試。
基于圖像分析的煤巖顯微組分定量統計方法，具有測試過程追溯功能，便于審核。
鏡質體反射率的光度計測試方法，符合GB/T 6948-2008《煤的鏡質體反射率顯微鏡測定方法》的要求。人工確認測試對象并自動測試鏡質組反射率，測試結果可用于仲裁。
基于圖像分析自動識別鏡質組并測試反射率，無需人工干預，自動形成反射率測試報告。具有測試過程追溯功能。
2.顯微鏡：
(1)符合MT/T 1053-2008《測定鏡質體反射率的顯微鏡光度計技術條件》要求。
(2)光學系統：偏光專業反射光路，具有明場（自然光），偏光功能。由明場反光鏡、起偏器和180度旋轉檢偏器實現。配有日光濾片。可實現鏡質體隨機反射率、反射率測量和焦炭的觀測。
*(3)物鏡：配備10X干物鏡及50X油浸物鏡（物鏡上標有POL XLR，XLR：專門致力于煤巖反射率分析，其他品牌均無針對性物鏡），要求高精度新標準HCS物鏡，使用高折射率低色散材料。光線透過率高，能夠降低透鏡界面漫反射，同時具有防霉功能
*(4)目鏡：配三目鏡筒，一筒用于檢測。雙目用于觀察，目鏡10x/22，帶視度補償功能，配置預裝10/100測微尺。雙目鏡頭可調眼距，能保證目鏡齊焦。
(5)光源：采用特制照明系統并使用長壽命高亮度鹵素燈12V/100W及反光碗的柯勒照明方式，帶調光裝置和顯示。色還原好，提高分辨率，光效高而均勻，有效使用壽命在2000小時。
(6)濾色片及測量附件
安裝濾色片系統，配置日光矯正、隔熱濾片、目鏡測微尺10/100、測微臺尺。
*(7）載物臺360°旋轉，旋轉精度±1°
3.自動移動載物臺要求：
*(1)XYZ三軸電動載物臺通過軟件控制實現XY自動移動和Z軸自動調焦。
*(2)通過軟件控制和顯微攝像頭形成聯動，自動移動樣品的同時實現自動采集圖像，并可通過人工干預焦距調節確保圖像清晰率。
*(3)自動移動和采集圖像的過程能夠記錄每幅圖像的坐標，圖像采集完成后能夠實現圖像回溯功能，重新定位已采集的圖像。
*(4)XY軸最小步進精度0.05um，Z軸精度0.1um。XY軸復位重復精度<1um。
4.顯微數碼攝像頭技術條件
(1)通過軟件控制和自動載物臺形成聯動，自動移動樣品的同時實現自動采集圖像。
*(2)顯微高精密檢測專用攝像頭：檢測精度要求達到65536級（16bit）；同時可用于輸出彩色圖像，達到256×256×256級色階（24bit）。
*(3) 攝像頭應具有足夠的穩定工作時間，其線性范圍應覆蓋褐煤-無煙煤的鏡質組反射率范圍。
*(4)芯片為CCD，尺寸為 2/3 Inch CCD(Color)。
*(5) 光學接口：C-mount（Recommended: 1× ）。
5.圖像自動采集系統技術條件
(1)聯動控制載物臺自動移動和顯微攝像頭自動采集圖像。
(2)支持多種樣品掃描方式、支持自動聚焦方式、自動保存原始圖像數據。
(3)掃描區域大小、數量可選；聚焦模式分為自動聚焦/手動聚焦,支持暫停/等待拍照；掃描間距支持圖像之間重疊、緊鄰、間隔掃描圖像；掃描回溯支持重新定位并重新掃描。
(4)圖像追溯處理：要求可根據圖像特征，在人工選取煤巖組分時具有自動識取成片特征相近區域功能，以減少點擊量；并具有可將已選組分標注合成在單張圖像上以及合成保存功能；當修正完畢后，可自動統計全部測區的煤巖組分含量。
6.煤巖自動測試系統技術條件
*(1)測試過程可追溯：基于圖像分析法測試煤的顯微組分含量和鏡質組反射率。在計算機中保留全部圖像和測試過程、測試結果數據，可將測試結果標注于相應圖像之上，可反復調閱已測試樣品的測試過程和測試結果，便于審核。
*(2)反射率測試具有半自動人工識別鏡質組和全自動識別鏡質組并測試反射率兩種功能模式。半自動人工識別鏡質組模式嚴格按照現行GB/T 6948-2008《煤的鏡質體反射率顯微鏡測定方法》進行測試。全自動識別鏡質組模式依預測模型自動判斷鏡質體并測試反射率模式無需人工干預，自動形成反射率測試報告。
*(3)顯微組分含量測試可按照現行GB/T 8899-2013《煤的顯微組分組和礦物測定方法》進行半自動（人工）測試，也可由計算機自動掃描分析得出煤巖組成（活惰比）數據。自動測試可將測試結果標注于相應圖像之上，便于審核。
*(4)自動測試焦炭孔隙參數：通過掃描焦炭切塊樣品，可提供平均孔隙率（%）、平均孔徑（um）、平均壁厚（um）、孔徑區間分布及壁厚區間分布含量等數據及相應圖表。
*(5)半自動（人工）檢測焦炭光學組織功能：可按照YB/T 077-1995焦炭光學組織的測定方法進行焦炭光學組織測量。
*(6)其它組分測量功能：可自定義測量其它需要統計含量的組成。
7.鏡質組反射率人工檢測技術條件
滿足MT/T 1053-2008《測定鏡質體反射率的顯微鏡光度計技術條件》要求。
符合GB/T 6948-2008《煤的鏡質體反射率顯微鏡測定方法》的要求。
檢測光譜主峰為546nm，半峰寬8 nm。
檢測精度：可分辨0.0001反射率變化。
檢測區直徑約2um。
線性：任一標樣理論與實測值不超過±0.02%。
穩定性：連續檢測任一標樣30min，波動的值與最小值之差不超過理論值2%。
對于所測量的煤的鏡質體反射率電信號進行統計分析處理，自動得出相應的直方圖。
測試結果可用于仲裁。
8.標準樣品技術條件
配備藍寶石、釔鋁石榴石、釓鎵石榴石三個一級標樣，符合MT/T 1053-2008《測定鏡質體反射率的顯微鏡光度計技術條件》要求。
9.煤巖磨片成套設備，包括雙盤研磨、雙盤拋光、熱成型工具及專用浸油等耗材。
10.售后服務
軟件終生免費升級，所有煤巖反射率及組份測試新標準發布，都能夠及時更新軟件，滿足新發布的測試標準要求。
11．供貨清單總表
| 序號 | 名 稱 | 規格型號 | 產地 | 數量 | 備注 |
| 1 | 顯微鏡 | Leica DM 4 P研究級 | 德國 | 1臺 | |
| 2 | 自動移動物臺 | MSP9000C | 德國 | 1臺 | |
| 3 | 顯微攝像頭 | MSP 9000C | 德國 | 1臺 | |
| 4 | 圖像自動采集系統 | MSP 9000C | 德國 | 1套 | |
| 5 | 煤巖自動測試系統 | MSP 9000C | 德國 | 1套 | |
| 6 | 計算機、顯示器 | 聯想THINKCENTRE M8400t商務機CPU：I7-3.4G；內存：4G；硬盤：1T；顯示器：21.5英寸。 | 中國 | 1臺 | |
| 7 | 打印機 | HP 1108激光 | 中國 | 1臺 | |
| 8 | 煤巖制樣設備 | 鑲嵌機 磨片機 雙盤拋光機 超聲波清洗機 | 上海 | 1套 | |
| 9 | 標準樣品 | 一級標樣（藍寶石、釔鋁石榴石、釓鎵石榴石） | 西安 | 1套 | |
| 10 | 穩壓器 | | 德力西 | 1臺 | |
| 11 | 耗材 | 專用浸油、砂紙等 | | 1套 | |
以下為各部分具體詳細清單：
顯微鏡（Leica DM 4 P）配置與配件表
| 序號 | 產品部件名稱 | 規格型號 | 產地 | 數量 | 備 注 |
| 1 | 偏光顯微鏡主體 | | 德國LEICA | 1臺 | 德國原裝LEICA(徠卡)生產； Basic stａnd DM4 P TL/RL LED, DM4500主機座，包含透射光路、調焦機構, 電源部分和液晶顯示以及色溫恒定CCIC控制系統 |
| 2 | 底板有濾色片盒 | | 德國LEICA | 1個 | Ground plate with filter magazine |
| 3 | 6孔可對中物鏡轉換頭和反射光路 | | 德國LEICA | 1套 | |
| 4 | 電動控制孔徑光闌和視場光闌 | | 德國LEICA | 1套 | |
| 5 | DIC插槽 | | 德國LEICA | 1個 | Aufnahme für DIC Prismen/Kompensator |
| 6 | 三目筒 | | 德國LEICA | 1個 | Basic Docu Tube POL BDTP |
| 7 | 出口適配器 | | 德國LEICA | 1個 | Tube adapter incl. docu. port |
| 8 | 360°旋轉載物臺 | | 德國LEICA | 1個 | DM4500 POL stage with 45° clickstops |
| 9 | 燈箱(用于反射光路) | | 德國LEICA | 1個 | Lamp housing LED |
| 10 | Smith反射器 | | 德國LEICA | 1個 | POL cube to Smith, fixed |
| 11 | 目鏡(有測微尺) | | 德國LEICA | 1個 | Eyepiece HC PLAN s 10x/22 Br.M +reticule |
| 12 | 目鏡 | | 德國LEICA | 1個 | Eyepiece HC PLAN s 10x/22 Br. M |
| 13 | 反射光起偏器 | | 德國LEICA | 1個 | Polarizer L ICR/P w. whole-wave plate |
| 14 | 360°檢偏器 | | 德國LEICA | 1個 | Analyzer 360° |
| 15 | 入補償片 | | 德國LEICA | 1個 | Whole-wave plate |
| 16 | 10X干物鏡 | | 德國LEICA | 1個 | Obj. HC PL EPI 10x/0.25 Pol |
| 17 | 50X物鏡(油鏡) | | 德國LEICA | 1個 | Obj. HC PL EPI 50x/0.85 Oil POL |
| 18 | 反射光濾色片插槽 | | 德國LEICA | 1個 | Filter slider for IL axis |
| 19 | 日光型濾片(反射光用) | | 德國LEICA | 1個 | Daylight filter DLF |
| 20 | 測微臺尺 | | 德國LEICA | 1個 | Stage micrometer |
| 21 | 防塵罩 | | 德國LEICA | 1個 | Dust cover for DM 4 P |
| 22 | 壓平器 | | 上海 | 1個 | |
| 23 | 內六角隨機工具 | | 德國LEICA | 1套 | |
制樣設備部分
| 1 | 雙盤預磨機 | YM-2A | 上海金相 | 1臺 | 雙盤 |
| 2 | 雙盤拋光機 | PG-2B | 上海金相 | 1臺 | 雙盤，可單盤控制 |
| 3 | 鑲嵌機 | XQ-1型 | 上海金相 | 1臺 | 直徑30mm |
| 4 | 可調電阻爐 | | 上海 | 1臺 | 1000W |
| 5 | 小型刀片式粉碎機 | XFB-200 | 上海 | 1臺 | |
| 6 | 篩子 | 1mm | | 1套 | 1MM,0.1MM,0.06MM方孔標準篩，頂蓋、底座各1個 |
| 7 | 電吹風 | | 上海 | 1個 | |
注：如需塊焦切割機可選配。
耗材及輔助件類清單
| 序號 | 產品名稱 | 規格型號 | 數量 | 備 注 |
| 1 | 煤巖專用拋光劑 | KD-01P | 5Kg | |
| 2 | 煤巖專用拋光布 | KD-02P | 3張 | |
| 3 | 粗磨耐水砂紙 | KD-01M | 100張 | |
| 4 | 細磨耐水砂紙 | KD-02M | 100張 | |
| 5 | 煤巖專用鑲嵌膠粉 | KD-01Z | 1Kg | |
| 6 | 煤巖專用浸油 | KD-01C | 2瓶 | 23℃ Ne=1.518 |
| 7 | 擦鏡紙 | KD-02C | 10本 | |
| 8 | 水平膠泥 | KD-03C | 1塊 | |
| 9 | 載玻片 | KD-04C | 1盒 | |
| 10 | 磨口滴瓶帶滴管 | 25ml | 3個 | |
| 11 | 吸耳球 | | 1個 | |
| 12 | 塑料燒杯 | 500ML | 2個 | |
| 13 | 裁紙刀 | | 1把 | |
| 14 | 坩堝 | | 15個 | |
| 15 | 小鑰勺 | | 5個 | 不銹鋼 |
| 16 | 線手套 | | 2副 | |
| 17 | 攪拌棒 | | 5根 | |
| 18 | 標簽液 | | 2瓶 | 書寫樣品標號 |
| 19 | 預磨機膠圈 | | 2個 | |
| 20 | 插排 | | 2個 | 六孔以上 |
| 21 | 鼠標墊 | | 1個 | |
| 22 | 產品說明書 | | 1份 | 電子版 |
