鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
鍍層測厚儀有兩種開機使用方法。一種是探頭在測試過程中自動觸發(fā)開機，并且直接顯示出測量結果。這是因為采用了數(shù)字探頭，非常的靈敏，會自動識別出測量基材，并且自動轉(zhuǎn)換。
還有一種是按鍵開機。開機儀器會顯示探頭型號，兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。

鍍層測厚儀特點
實用特點一：0.5秒就可以無損測量出涂層以及鍍層的厚度。并且自動識別測量的基材。
實用特點二：市面上的鍍層測厚儀，在使用時都是需要校準的，但林上的鍍層測厚儀LS223，無需校準，只需凋零，儀器調(diào)零完畢后即可開始測量。
實用特點三：儀器只有一個按鍵，省去繁瑣操作，測量更加的簡單。
實用特點四：測頭采用真正的紅寶石，非常的耐磨和耐腐蝕，可以保證鍍層測厚儀LS223長久有效的使用。
實用特點五：探頭采用了的數(shù)字探頭，這種探頭不容易收到干擾，而且還提供優(yōu)良的測試精度，即使溫度變化也不受影響。
實用特點六：有F3N3探頭和F5N3探頭可選擇F5N3探頭的量程范圍是5mm，F(xiàn)3N3探頭的量程范圍是3mm。鐵鋁兩用，特別適用于大厚度的涂層檢測。

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差，可以進行簡單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法：
1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置，保持探頭的穩(wěn)定。
2、按下按鍵，屏幕會提示壓緊探頭，再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。
4、完成后，可以把有標準值的測試片放在調(diào)零板上測量。測量的數(shù)值與標準測試片的誤差范圍之內(nèi)，則說明儀器可以正常使用了。

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