介電常數介質損耗測試儀
    高頻介質損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）ZJD-C型介質損耗及介電常數測試儀、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入ZJD-B或C、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T1409-2006、美標ASTMD150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的優選解決方案。
    《S916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統的核心檢測部件，它由一個LCD數字顯示的微測量裝置和一對經精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。S916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新換代產品，精密的加工設計、精確的LCD數字讀出、一鍵式清零功能，克服了機械刻度讀數誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。
    基于串聯諧振原理的《ZJD-B/C介質損耗及介電常數儀》是測試系統的二次儀表，其數碼化主調電容器的創新設計代表了行業的成就，隨之帶來了頻率、電容雙掃描(B1型)的全新搜索功能。該表具有*的人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達1×10-6。國標GB/T1409-2006規定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)，把被測材料作為平板電容的介質，與輔助電感等構成串聯諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態下的特征。
    介質損耗及介電常數儀的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ，無須關注量程和換算，摒棄了傳統Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況，它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。
數據采集和tanδ自動測量控件（裝入ZJDB或C)，實現了數據采集、數據分析和計算的微處理化，tanδ測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理，因而提高了數據的精確度和測量的同一性，是人工讀值和人工計算的。
    一個高品質因數（Q)的電感器是測量系統的輔助工具，關乎測試的靈敏度和精度，在系統中它與平板電容（S916）構成了基于串聯諧振的測試回路。本系統推薦的感器為LKI-1電感組，共由9個高性能電感器組成，以適配不同的檢測頻率。
介質損耗測試系統主要性能參數:
S916測試裝置
高頻測試儀
平板電容極片:Φ50mm/Φ38mm可選
頻率范圍:20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調范圍:≥15mm
頻率指示誤差:3×10-5±1個字
夾具插頭間距:25mm±0.01mm
主電容調節范圍:30-500/18-220pF
測微桿分辨率:0.001mm
主調電容誤差:<1%，0.1pF
夾具:損耗角
正切值:≦4×10-4（1MHz)
Q測試范圍:2～1023