LJD-B型介電常數及介質損耗測試儀
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一、介電常數介質損耗測試儀概述：
LJD-B型介電常數及介質損耗測試儀是我公司*研制生產的產品，自該產品實現銷售后，我公司工程師就一直持續不斷對產品改進升級；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進了早期產品存在的不足之處，提高了測試精度，并增加新的功能。但近期我公司發現，一些沒有研發能力的不良公司，盜版了我公司早期產品的軟件，仿制我公司的產品進行銷售，給不了解情況的客戶將帶來損失。因為這些產品的軟件存在不足之處，（如在主電容調節至80pf左右時，電容指示值會出現跳變，出現180pf左右的指示值；在介質損耗測試時，當材料的損耗較大時，介質損耗值會出現錯誤。）但又無法得到升級完善，產品沒有新增的功能。因此請廣大用戶注意識別。
二、介電常數介質損耗測試儀技術參數：
信號源頻率范圍： DDS數字合成 10KHz-70MHz
Q測量范圍： 1-1000自動/手動量程
信號源頻率覆蓋比： 6000:1
Q分辨率： 4位有效數,分辨率0.1
信號源頻率精度： 3×10-5 ±1個字,6位有效數
Q測量工作誤差： <5%
電感測量范圍： 15nH-8.4H,4位有效數,分辨率0.1nH
調諧電容： 主電容30-500PF
電感測量誤差： <5%
調諧電容誤差和分辨率： ±1.5P或<1%
標準測量頻點： 全波段任意頻率下均可測試
Q合格預置范圍： 5-1000聲光提示
諧振點搜索： 自動掃描
Q量程切換： 自動/手動
諧振指針： LCD顯示
LCD顯示參數： F,L,C,Q,波段等
三、夾具工作特性
1.平板電容器：
極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
4．測微桿分辨率：0.001mm
四、配置：
主機一臺
電感九支
夾具一套
隨機文件一套
LJD-C型介電常數及介質損耗測試儀
一、概述：
LJD-C型介電常數及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項技術：
雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。
自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。
計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
LJD-C介電常數及介質損耗測試儀的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。
二、主要技術特性：
Q 值測量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30、100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔
固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差:≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍: 4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍: 1 ～ 200pF
主電容調節范圍: 18 ～ 220pF
主電容調節準確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz
頻率分段 （ 虛擬 ）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
頻率指示誤差 :3 × 10 -5 ± 1 個字
三、夾具工作特性
1.平板電容器：
極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
4．測微桿分辨率：0.001mm
四、配置：
主機一臺
電感九支
夾具一套
隨機文件一套
