華科智源-功率循環老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現IGBT封裝的主要兩種失效方式:鍵合線失效和焊料層老化。實驗的關鍵是控制結溫的波動范圍以及溫度,得到不同條件下的實驗壽命,從而得到IGBT的壽命。
深圳市華科智源科技有限公司，是一家專業從事功率半導體測試系統自主研發制造與綜合測試分析服務的*，坐落于改革開放之都-中國深圳，核心業務為半導體功率器件智能檢測準備研制生產，公司產品主要涉及SMT*檢測儀，MOS管直流參數測試儀，MOS管動態參數測試儀，IGBT動態參數測試系統，IGBT靜態參數測試儀，在線式檢修用IGBT測試儀，變頻器檢修用IGBT測試儀，IGBT模塊測試儀，軌道交通檢修用IGBT測試儀，風力發電檢修用IGBT測試儀，功率循環，雪崩及浪涌測試設備，產品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測試范圍等競爭優勢，將廣泛應用于IDM廠商、器件設計、制造、封裝廠商及高校研究所等；
華科智源-功率循環老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現IGBT封裝的主要兩種失效方式:鍵合線失效和焊料層老化。實驗的關鍵是控制結溫的波動范圍以及溫度,得到不同條件下的實驗壽命,從而得到IGBT的壽命。
| 產品名稱 | 參考價 | 地區 | 公司名稱 | 更新時間 | |
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