1.2產(chǎn)品名稱：步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室
1.3產(chǎn)品型號：TW-S008C
1.4適用范圍：1.本試驗(yàn)設(shè)備適用：電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高、低溫環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)。
2.本試驗(yàn)設(shè)備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存；腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存；生物試樣的試驗(yàn)或儲存；強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲存。
1.5符合標(biāo)準(zhǔn) GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法 ；GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法； GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)cab：恒定濕熱試驗(yàn)方法； GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db：交變濕熱；GB-T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備；GB10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB10586 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
1.6檢定標(biāo)準(zhǔn) 溫度性能測試按照國家標(biāo)準(zhǔn)JJF1101-2003相關(guān)條款檢定
溫度性能測試按照國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.2 , GB/T 5170.5 ,溫度性能指標(biāo)的測試方法
2、主要參數(shù)指標(biāo)
2.1內(nèi)部尺寸：寬3000mm×深3000mm×高2000mm（或其他尺寸）
2.2有效容積：18m3
2.3外形尺寸：寬3500mm×深4250mm×高2280mm（此為預(yù)設(shè)尺寸，實(shí)際設(shè)計略有偏差）如在高層建筑安裝，請?zhí)峁┴浱荨堑馈㈤T等實(shí)際尺寸，以配合庫體的結(jié)構(gòu)設(shè)定。
2.4溫度范圍：-40℃～+100℃
2.5溫度波動度：≤±0.5℃（空載）
2.6溫度均勻度：≤2.0℃（空載）
2.7濕度范圍：20%～98%（20℃～85℃范圍可控濕度）
2.8濕度偏差：≤± 3%R.H. （空載）
2.9底板承重：≥200KG/m2（空載）
2.10升溫速率：2～3℃/min（空載）
2.11降溫速率：0.7～1℃/min（空載）
2.12側(cè)試孔：￠50mm引線測試孔1個，配低導(dǎo)熱性材料的絕熱塞和蓋子。
