德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
- 所有型號均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機
- 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
- 所有型號均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機
- 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)
主機功能
可選探頭參數(shù)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
| 型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 | ||||
| 應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設(shè)寬容度極限值) | - | 1 | 10 | 99 |
| 可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù) | - | 1 | 500 | 500 |
| 數(shù)據(jù)總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
| MINITEST統(tǒng)計計算功能 | ||||
| 讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar | - | √ | √ | √ |
| 讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
| 組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar | - | - | √ | √ |
| 組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
| 存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) | - | - | - | √ |
| 分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 | - | - | √ | √ |
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | - | √ | √ | √ |
| 其他功能 | ||||
| 透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) | - | √ | √ | √ |
| 在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) | √ | √ | √ | √ |
| 利用計算機進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) | √ | √ | √ | √ |
| 補償一個常數(shù)(Offset) | - | - | √ | √ |
| 外設(shè)的讀值傳輸存儲功能 | - | √ | √ | √ |
| 保護并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 | √ | √ | √ | √ |
| 更換電池是存儲數(shù)值 | √ | √ | √ | √ |
| 設(shè)置極限值 | - | - | √ | √ |
| 公英制轉(zhuǎn)換 | √ | √ | √ | √ |
| 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最小值 | - | - | √ | √ |
| 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | - | - | √ | √ |
| 浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 | √ | √ | √ | √ |
| 組內(nèi)單值延遲顯示 | - | √ | √ | √ |
| 連續(xù)測量模式中顯示最小值 | √ | √ | √ | √ |
可選探頭參數(shù)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
| 探頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 誤差 | 最小曲率 半徑(凸/凹) | 最小測量 區(qū)域直徑 | 最小基 體厚度 | 探頭尺寸 |
| F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%+0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
| F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm |
| F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x170mm |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%+10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%+50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm |
| N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%+0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm |
| N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm |
| N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x170mm |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%+25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%+0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm |
| CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm |
| FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F：0.5mm N：50μm | φ15x62mm |
| FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面 | 30mm | F：0.5mm N：50μm | φ21x89mm |
| FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F：0.5mm N：50μm | φ15x62mm |
| 注： | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
