● 移動和固定測量儀器
● 粗糙度和波紋度測量
● 掃描長度高達 26 mm
● 超過 50 R，W 和 P 表面參數(shù)
● 根據(jù)標準自動選擇截止和掃描長度
● 動態(tài)校準功能
● 驅(qū)動裝置和評估儀器之間可選有線和藍牙連接 (4 m)
● 磁性測頭支架（獨立測頭）BFW 250
● 機動測頭歸零設置（ 7.5 mm）
● 粗糙度和波紋度測量
● 掃描長度高達 26 mm
● 超過 50 R，W 和 P 表面參數(shù)
● 根據(jù)標準自動選擇截止和掃描長度
● 動態(tài)校準功能
● 驅(qū)動裝置和評估儀器之間可選有線和藍牙連接 (4 m)
● 磁性測頭支架（獨立測頭）BFW 250
● 機動測頭歸零設置（ 7.5 mm）
| 測量原則 | 探針法 |
|---|---|
| 輸入 | BFW 無導塊系統(tǒng) |
| 測量范圍 mm | +/- 250 µm（高達 +/- 750 µm，3x 測桿長度） |
| 輪廓分辨率 | 測量范圍 +/- 250 µm：8 nm 測量范圍 +/- 25 µm：0.8 nm |
| 過濾器符合 ISO/JIS 標準 | ISO 11562 標準高斯濾波 ISO 13565 標準濾波 |
| 采樣長度數(shù)量符合 ISO/JIS | 1-5 |
| 接觸速度 | 0,2 mm/s; 1,0 mm/s |
| 探針 | 2 µm |
| 測量力 (N) | 0.75 mN |
| 重量驅(qū)動單元 | 約 0.9 kg |
| 重量測量儀 | 約 1.0 kg |
| 表面參數(shù) | 超過 50 種符合當前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數(shù)可用于 R-、P- 和 W 輪廓 |
配置
● MarSurf M 400 評估儀器
● MarSurf SD 26 驅(qū)動裝置包含 BFW 250 測頭系統(tǒng)
● 標準測桿 (6852403)
● 1 卷熱敏紙
● 寬范圍電源裝置，帶 3 個適配器
● 2 x USB 線（用于連接計算機和有線連接）
● 操作說明
● 提供便攜手提箱
● MarSurf M 400 評估儀器
● MarSurf SD 26 驅(qū)動裝置包含 BFW 250 測頭系統(tǒng)
● 標準測桿 (6852403)
● 1 卷熱敏紙
● 寬范圍電源裝置，帶 3 個適配器
● 2 x USB 線（用于連接計算機和有線連接）
● 操作說明
● 提供便攜手提箱
