貴金屬檢測儀XF-A5S pro
XF-A5S Pro貴金屬成分無損檢測儀是西凡儀器面向貴金屬成分無損檢測的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于珠寶首飾工廠以及回收等行業和單位。該產品采用目前的進口定制Fast-SDD探測器，內置四核CPU定制XRF工控電腦，采用全新的垂直光路。檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，性價比。
產品介紹及展示
產品特點
元素檢測范圍：鋁(3)～鈾(No.92)
可支持最多30個元素同時計算
分析范圍：0.01%～99.99%
檢測精度：±0.01%(999金)
檢測樣品：固體/液體/粉末
定制TCP/IP協議API接口，支持外網對設備的控制、狀態監控及數據采集
支持多點連續測試，測試效率高
內置ARM四核XRF專用電腦+Linux內核，無懼木馬和病毒軟件
三準直器自動切換
多濾光片自動切換
選裝10工位轉盤，自動連續測試10個樣品
核心部件
探測器：AMPTEK定制版Fast-SDD探測器
內置工控電腦：NXP IMX8四核Cortex-A53 XRF專用電腦
高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源
X射線管：50KV/1mA
窗口材料：鈹窗
靶材：鎢
焦點：? 0.1mm
準直器：?0.5mm/ ?1mm/ ?2mm
產品規格
輸入電壓：AC100～240V，50Hz
產品包裝尺寸：550mmx580mmx510mm
產品尺寸：450mmx422mmx378mm
樣品艙尺寸：366mmx336mmx141mm
額定功率：<150W
毛重：49KG
凈重：37KG
噪音：50dB
使用環境：
溫度：15℃～31℃
濕度：<70%（不結露）
選擇貴金屬檢測儀XF-A5S pro的四大理由
無損檢測
1、貴金屬的稀缺與寶貴，讓灰吹法等傳統的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準確、無損的檢測方法，而X射線熒光光譜法無非是很好的貴金屬無損檢測方法。
規避交易風險
2、社會上金銀首飾摻假現象時有發生，不論是商家還是顧客都為此蒙受巨大的損失，而西凡儀器的金銀檢測儀可以讓金銀首飾的真實含量準確呈現，在這種公平公開的市場環境下，自然可以規避交易風險。
誠信展示
3、金銀首飾的摻假現象，讓顧客對商家產生了不信任，而商家借助金銀檢測儀可以將誠信經營的形象展現給顧客。
提升競爭力
4、客戶的信任能給珠寶首飾店帶來更多的營業收入，從而提升了市場競爭力。當前國內外許多珠寶店都配備有金銀檢測儀，這也是他們在行業里能保持強大競爭力的原因之一。
產品榮譽證書
| | | |
