Hot Disk設備不僅可以根據探頭的選擇，還可以根據可用的測量模塊來定制測試需求。這些模塊允許測試不同幾何形狀、導熱范圍和材料類型的樣品。各向同性標準模塊是所有配置的核心，而可選模塊為Hot Disk配置添加更多新功能。
各項同性標準模塊
塊體導熱系數的全面測試
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1
各項同性標準模塊
強大的各向同性測量模塊允許Hot Disk用戶測量任何各向同性塊體樣品的導熱系數、熱擴散率和比熱容，無論是固體、液體、粉末、膏體還是泡沫。用該模塊測得的導熱系數是樣品被檢測的體積的幾何平均值。使用各向同性模塊很簡單，只需要最少的輸入參數。即使是一個未知材料性能的樣品也可以很快地進行測試和分析。
各向同性測量模塊具有單面和雙面試樣測試功能。
導熱系數測試范圍：
系統 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.03-500 W/mK
TPS 1500 0.03-50 W/mK
TPS 500 S, TPS 500 0.03-100 W/mK
Hot Disk M1 0.03-40 W/mK
適用系統型號：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1
平板模塊
板材或平板樣品的二維方向導熱系數測試
TPS 2200 TPS 2500 S TPS 3500 TPS 500 (S)
平板模塊
利用平板測量模塊，可以對高導熱性材料的晶圓片、片或板進行測試。在適合用這種方法檢測的樣品中，我們測量過如金屬、半導體和石墨。該方法在已知樣品厚度的前提下，只需要將測量時間和輸出功率作為數據輸入即可，使用起來非常簡單直觀。
平板測量模塊需要兩個相同的樣品片，以準確的測量。
導熱系數測試范圍：
系統 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S 1*-1500 W/mK
TPS 2200 1*-500W/mK
TPS 500 S 1*-200 W/mK
*為了達到測試精度建議測試5W/mK以上的樣品，但低至1W/mK的樣品都可得到很好的重復性。
適用系統型號：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 500 S
各向異性模塊
方向依賴性的導熱系數測試
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500
各向異性模塊
各向異性測量模塊提供了*的能力，以測量樣品在軸向和徑向分別的導熱系數。能夠測試導熱系數的各向異性對許多應用來說是非常重要的。在任何涉及加熱或冷卻的情況下，例如電池、電子產品和建筑材料領域中，能夠確定這一特性是至關重要的。這種類型的測量通過預輸入檢測樣品的比熱容即可實現。比熱容，如果不能在科學期刊中找到，或從以前類似材料的測試中得知，可以很容易和準確地使用專用的TPS測量模塊進行測試。
各向異性測量模塊具有單面和雙面樣品測試的特點，但建議使用雙面測試以達到精度。
各向同性測量模塊具有單面和雙面試樣測試功能。
導熱系數測試范圍：
系統 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S 0.005-1500 W/mK
TPS 2200 0.005-500W/mK
TPS 1500 0.005-50 W/mK
適用系統型號：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500
測試透過薄膜的導熱系數
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200
薄膜模塊
薄膜模塊用于測量通過導電體或板式襯底上的絕熱薄膜或涂層的導熱系數。通過測量薄膜上的熱阻并輸入薄膜厚度即可得到導熱系數。薄膜的厚度可測20到500μm。
薄膜測量模塊需要兩塊相同的樣品薄膜進行測試。
導熱系數測試范圍：
系統 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.01-5 W/mK
適用系統型號：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200
復雜樣品的直接Cp測試
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S)
比熱模塊
該專用模塊擅長于確定固體或液體樣品的比熱容。與所有其他Hot Disk測試一樣，這個過程是溫和的，沒有破壞性的。被測試的樣品被放置在一個絕熱包裹的金容器中，使用設定的加熱功率小心地加熱幾度，可以實現非常精確的比熱計算。
比熱容測量模塊是為單試樣測試而設計的。
導熱系數測試范圍：
系統 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 1500, TPS 500 S 5 MJ/m3K
適用系統型號：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 S
測試有限體積的樣品
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1
單面模塊
雖然最準確的導熱系數測量是通過探頭夾在兩個樣品之間進行的，但如果樣品量小，所有TPS儀器都可以進行單面測試。這種類型的測試表現出與標準測試同樣出色的重復性，并使快速QC測量或快速比較研究成為可能。單面測試的一個*的缺點是測試結果的精度略低，這是由于探頭周圍的熱流必須是不對稱的。除此之外，絕熱背景材料的使用可以準確的測試高導熱樣品，而低導熱樣品(例如許多聚合物)只能得到蓄熱系數。單面測試不需要額外的設備，只需要使用任何絕熱材料來固定探頭即可。這是所有Hot Disk型號都提供的功能，并可以根據您的需求提供的絕熱背景材料。
導熱系數測試范圍：
系統 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.1-500 W/mK
TPS 1500 0.1-400 W/mK
TPS 500 S 0.1-200 W/mK
TPS 500 0.1-100 W/mK
*要達到精度，樣品至少需要1W/mK;然而，直到0.1W/mK都可以保持很好的重復性和蓄熱系數。
適用系統型號：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1
棒狀樣品的導熱系數測試
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 1500 TPS 500 (S)
一維測試模塊
當測試高導熱材料時，如果樣品體積有限，一維方法是非常有用的。該模塊測試棒狀試樣沿軸向的導熱系數和熱擴散系數。這里探頭的直徑應該與樣品的直徑相匹配，這允許測量非常小的樣品，小到直徑1.5毫米和長度4毫米。
一維測量模塊具有單面和雙面試樣測試的特點。
系統 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S 1-1800 W/mK
TPS 1500 1-400 W/mK
TPS 500 S 1-200 W/mK
適用系統型號：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS1500 TPS 500 S
低密度/高絕熱模塊
測試最輕且最絕熱的樣品
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500
低密度/高絕熱模塊
為了提高非常低導熱材料(如氣凝膠)的測試準確性，這個模塊是的補充。這些材料的導熱系數如此之低，以至于通過探頭中間(在本例中是電纜)的熱損失變得非常顯著。利用該模塊可以精確地校正熱損失，使測量極低的導熱系數成為可能。
低密度/高絕熱測量模塊需要兩塊樣品進行測試。
導熱系數測試范圍：
系統 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S,TPS 2200,TPS 1500 0.01-0.5 W/mK
適用系統型號：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500
識別樣品內部的趨勢及缺陷
TPS 3500 TPS 2500 S
結構探頭模塊
*的結構探頭測量模塊使測量導熱系數隨探測深度的變化成為可能。該方法可用于非均勻性物質的均勻性檢測、缺陷檢測或分析。為了精確測量，需要預先測量試樣的平均比熱容。
結構探頭測量模塊具有單面和雙面試樣測試功能。
導熱系數測試范圍：
系統 范圍
TPS 3500, TPS 2500 S 0.03-500 W/mK
適用系統型號：
TPS 3500 TPS 2500 S
自動控制模塊
TCP/IP協議遠程控制
TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1
自動控制模塊
該模塊允許通過TPC/IP協議遠程操作TPS儀器。當使用儀器進行在線或近線應用時，如質量控制，或當操作員不能直接使用儀器時，這就是一個強大的工具。
適用系統型號：
TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1
