F30 在線厚度測量系統F30

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型號F30
品牌
所在地
更新時間2022-03-25

全光科技（北京）有限公司

廠商性質其他
所在地區北京市
實名認證已認證
產品數量87
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　　全光科技（北京）有限公司位于北京市中關村科技園區昌平園，多年來一直致力于光學技術的應用和推廣，產品涉及光纖通信，光纖傳感，半導體，，科研和教育行業，客戶遍及國內各大高校，科研院所以及高科技企業。

　　全光科技始終堅信“質量、服務、誠信、創新才是發展的硬道理”，堅持“科技創新、質量優先”的管理信念，“自信源于專業，拼搏成就夢想”是我們的經營理念，我們一直努力為客戶提供質優、價廉、專業、可靠的光學測量儀器及服務。

　　全光科技目前的合作伙伴主要有美國OEwaves、Luna、General Photonics、Micron Optics（MOI）、LaseGen、Ophir-Photon、Bristol、Filmetrics，加拿大WL Photonics、CodeSScientific、EXFO，德國Novoptel，Toptica，HighFinesse，英國PE fiberoptics，法國Yenista，韓國Sairon Tech，日本Anritsu、Santec和Yokogawa等公司。

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產品介紹F30系列在線厚度測量系統是監控薄膜沉積有力的工具，能實時測量沉積率、沉積層厚度、光學常數(n和k值)和半導體以及電介質層的均勻性

在線厚度測量系統F30 產品詳情

產品介紹

F30 系列在線厚度測量系統是監控薄膜沉積有力的工具，能實時測量沉積率、沉積層厚度、光學常數 (n 和 k 值) 和半導體以及電介質層的均勻性。在分子束外延和金屬有機化學氣相沉積鍍膜中，F30可以測量平滑和半透明的，或輕度吸收的薄膜，這實際上已經包括了從氮化鎵鋁到鎵銦磷砷的任何半導體材料。

F32則可以配置多個探頭，最多可在四個不同位置同時測量薄膜的厚度，軟件和測量結果可以通過設備上的數字I/O接口進行控制和采集，F32是一款非常適合集成在自動化生產線的膜厚測量設備。

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