1.即放即測！ 2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！ 3.可無標樣測量！ 4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！ 測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現在3秒內即可完成，大大提高樣品定位的操作性。 通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。 使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。 可從250×200mm的樣品整體圖像測量位置。 可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。 與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。 型號 FT110A 測量元素 原子序號Ti（22）～Bi（83） X射線源 空冷式小型X射線管 檢測器 比例計數管 準直器 ○型： 0.1 mmΦ、0.2 mmΦ 他2種 樣品觀察 CCD攝像頭 對焦 激光對焦（自動） 濾波器 一次濾波器（自動切換） 樣品區域 [固定]535×530 mm 測量軟件 薄膜FP法（2層、10種元素）、檢量線法 安全功能 樣品室門聯鎖、樣品沖突防止功能、儀器診斷功能 1. 通過自動定位功能提高操作性
2. 微區膜厚測量精度提高
3. 多達5層的多鍍層測量
4. 廣域觀察系統（選配）
5. 對應大型印刷線路板（選配）
6. 低價位
管電壓：50（可變更）kV
管電流：10～1000µA
[電動] 260×210 mm (移動量X:250 mm, Y:200 mm)
選購項
· 圖像處理軟件
· 塊體FP軟件（材料組成分析）
· 塊體檢量線軟件（電鍍液分析）
