OLED 器件IVL壽命和EQE三合一光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)

為滿足科研類(lèi)測(cè)試的需求，弗士達(dá)提供集成IVL測(cè)試和視角測(cè)試、壽命測(cè)試、光通量和外量子效率測(cè)試功能的多合一機(jī)臺(tái)。

高精度多通道電源為多工位壽命測(cè)試提供定電流或定電壓輸出，光譜儀逐一掃描各工位得到器件的亮度。使用光通量測(cè)試用積分球和光纖光譜儀可準(zhǔn)確測(cè)量器件的外量子效率，將器件置于積分球內(nèi)部進(jìn)行光通量和外量子效率的測(cè)量，內(nèi)置的校正A光源可提升光通量測(cè)試準(zhǔn)確性。

軟件介紹

● I-V-L曲線測(cè)量的設(shè)定

• 可以設(shè)定起始電壓、終止電壓、電壓步長(zhǎng)，進(jìn)行連續(xù)的測(cè)量

• 可以設(shè)定起始電流密度、終止電流密度、電流密度步長(zhǎng)，進(jìn)行連續(xù)測(cè)量

• 可以單獨(dú)設(shè)定電流密度的亮度檢測(cè)下限值，低于下限值時(shí)僅測(cè)電流電壓，超過(guò)下限值后同時(shí)測(cè)電壓電流亮度等數(shù)據(jù)

• 可以設(shè)定并保存設(shè)定的機(jī)種參數(shù)，下次測(cè)量時(shí)可以直接調(diào)用

● I-V-L的測(cè)量數(shù)據(jù)

• 測(cè)量的結(jié)果包括：亮度L(cd/m2)、電流效率(mA/cm2)、發(fā)光效率、外量子效率、色坐標(biāo)(x，y)、色溫、顯色指數(shù)CRI、發(fā)光光譜

• 輸出的測(cè)量項(xiàng)報(bào)表中的圖表包括：Cdens-V、Cdens-L、Cdens-LumE、 Cdens-EQE、 CIE1931、Spectra