SUPRA™ 55熱場發射掃描電子顯微鏡
4.環形高效 In-lens SE 探測器,具有良好的分辨率和對稱性。 5.電磁/靜電式復合物鏡,可對磁性物質進行高分辨成像。 分辨率:1.0nm @ 15kV 1.7nm @ 1kV 4.0nm @ 0.1kV 放大倍數:12 ~ 900,000x 加速電壓:0.1 ~ 30kV 可分析元素范圍:4Be~94Pu 二次電子形貌(SEI)、背反射成分像/形貌像(BEI)、吸收電子圖象、能譜成份圖象分析 1、金屬、非金屬及復合材料、生物樣品表面形貌、組織結構的觀察分析及圖象處理 2、納米材料:納米粉及納米粉體的形貌觀察和粒度測量分析 3、微區成分的定性、定量分析,并對重點區域做元素分布圖 4、顆粒樣品粒徑、面積、周長、圓度的測量,提供粒度分布圖,并可對孔徑樣品做孔徑分布直方圖、餅圖 5、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行結合情況觀察和厚度測量