CMS STEP電化學(xué)電位儀

分步測(cè)量 (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential) 是一種已定型很久的測(cè)試方法，用來測(cè)定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中，對(duì)多層鎳的測(cè)量變得越來越重要了，例如雙層鎳的測(cè)量已成為一種標(biāo)準(zhǔn)的操作。

COULOSCOPE® CMS STEP儀器高的電壓分辨率可以測(cè)量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（若需要，還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳）

COULOSCOPE®CMS STEP應(yīng)用領(lǐng)域：

同時(shí)測(cè)量雙層鎳或三層鎳鍍層的厚度和電化學(xué)電位。

幾乎可以測(cè)量所有金屬或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，甚至是多鍍層系統(tǒng)。

在工業(yè)和特殊領(lǐng)域內(nèi)的具體應(yīng)用范圍：

電鍍工業(yè)中的產(chǎn)品監(jiān)控；由于新穎電極簡便的操作，該儀器上乘地適用于電鍍車間繁雜的工作環(huán)境！

成品的入庫檢驗(yàn)，例如汽車工業(yè)中鉻合金輪轂澆筑件（帶雙層鎳）。

顯而易見的優(yōu)點(diǎn):

快速測(cè)試結(jié)果（比較于非?；ㄙM(fèi)時(shí)間的鹽霧測(cè)試機(jī)）

近100個(gè)預(yù)定義的測(cè)量程式（從例如鐵上鍍鋅的單鍍層到例如合成材料上鍍鉻，鎳，銅的三鍍層）

測(cè)量單元安排*。這一正在申請(qǐng)磚利的設(shè)計(jì)確保了參考電極與被測(cè)工件?reg;間始終相等的距離。這對(duì)于重復(fù)精度，測(cè)量精度是非常重要的

測(cè)量單元無需復(fù)雜調(diào)整

界面友好，菜單指引

采用根據(jù)DIN EN ISO 2177和ASTM B764-94標(biāo)準(zhǔn)的庫侖測(cè)試方法。如此，不僅銅鍍層，多層鎳鍍層以及鉻鍍層的厚度，而且鎳鍍層?reg;間的電化學(xué)電位都可以輕松測(cè)出。

大顯示屏，清晰的鍵盤

STEP-View軟件的特點(diǎn)：

電腦軟件STEP-View 可以方便地用來保存和計(jì)算所測(cè)的電位圖。當(dāng)然，儀器本身也可以直接進(jìn)行計(jì)算。
在STEP-View軟件中，所測(cè)電位圖的輪廓可以通過點(diǎn)擊鼠標(biāo)從儀器中讀出。鍍層厚度的測(cè)量和電位差的測(cè)量分別產(chǎn)生在二個(gè)分開的圖形中。可以通過在圖形相關(guān)部位設(shè)定多達(dá)5個(gè)的標(biāo)記來輕松設(shè)定感興趣的數(shù)值。數(shù)據(jù)可以輸出到Excel 電子表格，數(shù)據(jù)圖形可以保存為常用的圖形格式以及設(shè)定多種打印模板。