產(chǎn)品描述

工作原理：

粒度分布：動(dòng)態(tài)光散射儀（Dynamic Light Scattering, DLS）

ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）

檢測(cè)范圍：

粒徑范圍：0.3nm-10.0μm

ZETA電位： +/- 500mV

   Nicomp 380 Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380ZLS&S基礎(chǔ)上升級(jí)配套而 來，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布，同機(jī)采用 多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）檢測(cè)ZETA電位。粒 徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm，ZETA電位檢測(cè)范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了 高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有磚利技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻 分散體系的分析具有*優(yōu)勢(shì)。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個(gè)電極可以 使用成千上萬(wàn)次。另外，采用可變電場(chǎng)適應(yīng)不同的樣品檢測(cè)需求。既保證檢測(cè)精度，亦幫用戶大大 節(jié)省檢測(cè)成本。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

1、PMT高靈敏度檢測(cè)器；

2、可搭配不同功率光源；

3、雙列直插式電極和樣品池，可反復(fù)使用成千上萬(wàn)次；

4、鈀電極；

5、精確度高，zui接近樣品真實(shí)值；

6、復(fù)合型算法： 高斯（Gaussion）單峰算法與磚利的Nicomp多峰算法自由切換 相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換

7、快速檢測(cè)，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；

8、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；

9、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求；

10、無需校準(zhǔn)；

11、復(fù)合型算法：

（1）高斯（Gaussion）單峰算法與磚利的Nicomp多峰算法自由切換

12、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí)；

（1）可自動(dòng)稀釋模塊磚利（選配）；

（2）搭配多角度檢測(cè)器（選配）；

（3）自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）；