美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀SMPS-3938
產品介紹:
TSI的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標準。這一系統也經常用來使懸浮在液體中的顆粒尺寸的測量精度。美國國家標準與技術研究所(-NIST)使用一個TSID Ma尺寸為60nm和100nm的標準尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個精確地粒徑檢測技術,沒有假設顆粒的形狀粒度分布而直接測量數濃度。該方法是獨立的顆粒或流體的折射率,并具有高度的尺寸精度和測量重復性。
特點和優點
◎高分辨率數據:多達167個通道;
◎廣泛的尺寸范圍:從2.5nm到1000nm;
◎ISO15900:2009兼容;
◎快速測量:<10秒掃描;
◎寬的濃度范圍內,107particles/cm3;
◎的靈活性組件的設計;
◎無需電腦的操作,觸摸屏控制;
◎易于安裝與不安裝工具和自動發現部件;
◎離散粒子測量:適用于多模樣本;
◎獨立的顆粒和流體的光學性質;
◎寬范圍的系統的選擇:水或丁醇計數器供選擇;傳統的或非放射性中和器的選擇。