儀器簡介：
TE空洞共振腔于測量厚度小于0.3mm一下的薄膜，支持5G（第五代移動(dòng)通信系統(tǒng)），可達(dá)40GHz的頻率。
有固定的間隙用于插入待測樣品，并且在測量穩(wěn)定性方面優(yōu)于將樣品夾在諧振器中的方法。
可以測量各種材料（例如軟樣品和脆性樣品）的介電常數(shù)。
技術(shù)參數(shù)：
可測試頻率范圍： 10G-40GHz
介電常數(shù)Epsilon：1-5， 準(zhǔn)確度： ±1%，
介電損耗tangent delta：0.01-0.0001， 準(zhǔn)確度：±5%
樣品形狀：片狀（厚度0.3mm以下，40mm正方形以上）
符合標(biāo)準(zhǔn)JIS R1641 IPC-TM650 2.5.5.13
擁有多種腔體，每個(gè)腔可測一個(gè)頻點(diǎn):
主要特點(diǎn)：
TE空洞共振腔（Cavity Resonator ），專門用于測量厚度小于0.3mm一下的薄膜。
應(yīng)用領(lǐng)域：
主要應(yīng)用于5G材料，例如薄膜等。
高速數(shù)字/微波電路用基底材料 ；濾波器和介電天線用低損耗電介質(zhì) ；化學(xué)制品；
薄膜與新材料；半導(dǎo)體材料；電子材料（包括CCL和PCB）
相關(guān)資料
·日本AET高頻（微波）介電常數(shù)分析儀
