三維偏振能量色散X射線熒光光譜儀儀器簡(jiǎn)介：

隨著經(jīng)濟(jì)的快速一體化,各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)運(yùn)而生,尤其是環(huán)境保護(hù)方面，中國(guó)的第十一個(gè)五年計(jì)劃加大了對(duì)環(huán)境保護(hù)方面的投入，一系列相關(guān)的環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)對(duì)土壤、空氣及水等介質(zhì)中痕量重金屬的分析要求越來(lái)越高,而傳統(tǒng)的分析方法（如原子吸收等）由于樣品制備復(fù)雜、某些元素的檢出限達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)要求而導(dǎo)致分析速度和結(jié)果已遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足環(huán)保行業(yè)的要求。為了滿足對(duì)這類分析要求的需要,專業(yè)級(jí)X射線生產(chǎn)制造商—帕納科公司zui近向市場(chǎng)推出了用于環(huán)境分析的*能量色散X射線熒光光譜儀—Epsilon 5.該儀器采用了一系列的、帕納科光管功率可達(dá)600W,X光管zui高管壓可達(dá)100KV。）使其成為目前世界上zui*的能量色散X射線熒光光譜儀。 該儀器有兩大特點(diǎn)：制樣簡(jiǎn)單，可以直接對(duì)固體、液體、粉末等進(jìn)行分析，與傳統(tǒng)的ICP、AAS分析方法相比，無(wú)須對(duì)樣品進(jìn)行前處理，大大提高了分析速度；重金屬元素的檢出限可以降低到亞ppm級(jí),使其滿足的任何標(biāo)準(zhǔn)都沒有問題(如EPA IO-3.3、Weee & RoHS、ELV EN71等),并且將來(lái)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)一步提高,也無(wú)需增加任何投資即可滿足，一次投資,一步到位。

三維偏振能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)：

分析元素范圍：Na（11）－U（92）
激發(fā)電壓：zui大100kV
X光管功率：600W
二次靶: zui多可安裝15個(gè)
探測(cè)器: 超大面積高純Ge
分辨率: <135ev

主要特點(diǎn)：

? Gd靶材——采用稀土元素釓Gd為靶材，對(duì)于重元素的K系線激發(fā)效率非常高.

? *600W高壓發(fā)生器——工作電壓可達(dá)100kV，可以測(cè)量重金屬的K線，從而使重金屬的靈敏度大大提高。(傳統(tǒng)的能譜儀和現(xiàn)有的波長(zhǎng)色散型都只能測(cè)量重金屬的L線,而K線的強(qiáng)度要比L線的強(qiáng)度高一個(gè)數(shù)量級(jí))

? 三維偏振技術(shù)——利用三維偏振激發(fā)源，X射線管、偏振靶或二次靶與試樣的幾何布局是三維，使用偏振光或二次靶激發(fā)樣品，提高了激發(fā)效率并大大降低了原級(jí)譜背景，從而降低了譜儀檢出限。

? 二次靶技術(shù)——根據(jù)待測(cè)元素及試樣的組成，選擇*的二次靶用作激發(fā)源，譜儀可提供多達(dá)15個(gè)二次靶(標(biāo)準(zhǔn)9個(gè))。

? 濾光片——進(jìn)一步降低檢出限，可有多達(dá)5種供選擇。

? *Ge探測(cè)器PAN-32——其超大探測(cè)面積30mm2和5mm厚度，檢測(cè)X射線能量范圍寬達(dá)0.7-100 keV，分辨率小于140eV,zui大計(jì)數(shù)達(dá)到創(chuàng)記錄200,000cps。其在原子序數(shù)20(Sc)到92(U)達(dá)到的轉(zhuǎn)換效率。在高能量區(qū)(17keV以上)，其分辨率優(yōu)于波長(zhǎng)色散的晶體如LiF200的分辨率。