X射線熒光光譜儀-XRF

廠家型號：帕納科ZETIUM

 技術參數：

Zetium 是帕納科公司推出的集多種X射線分析的硬件和軟件技術于一個分析平臺的X射線光譜系統。其創造的SumXcore技術既“多核X射線分析技術”使X射線光譜技術進入了一個新的里程，使 Zetium 在多種環境下擁有高分析能力、速度和任務靈活性。 

1.測量元素范圍：F-Am元素；濃度范圍:ppm-99%；

2.多核X-射線分析系統，可在一臺儀器上可實現掃描式X射線波長色散分析、X射線能量色散分析、X-射線聚焦微小區域分析、專用游離氧化鈣X射線衍射分析；

3.波長色散通道（波譜核）和能量色散通道（能譜核）可同時分別得到F- Am 和Na-Am 所有元素的光譜數據和定量分析結果；

4.分析軟件完整的分析及校準軟件包 ，擁有理論、系數、經驗和FP基本參數法計算功能。

應用范圍：

用于金屬材料、非金屬材料、塊狀樣品、玻璃熔片樣品、粉末壓片樣品、松散粉末樣品、液體樣品、不規則樣品等定性、定量及無標樣定量分析。

表征項目：

對未知材料進行定性半定量分析。

樣品要求：

粉末或固體樣，粉末樣品用量 5g ，塊體要求直徑3cm  。