502型顯微電泳法Zeta電位儀

• 特點

  1.傳統測量原理：通過傳統微電泳方法測量膠體顆粒的zeta 電位。與激光光散射法相比，沒有黑盒子。
  2.通過激光暗場照明觀察納米顆粒：502的*的超顯微鏡設計提供了一個高對比度的圖像，即使是納米粒子。依賴于顆粒對懸浮介質的相對折射率不同，可測量小至20nm的顆粒。
  3.在靜止層觀察顆粒：高水平的激光光學系統和高性能的CCD攝像頭可以僅觀察靜止層的顆粒。其提供的高精度結果不受電滲流的影響。
  4.水平設置的長方形電泳池：水平放置的長方形電泳池提供了一個高度的結果。因為這樣的布局幾乎不存在由于池壁附近顆粒沉淀引起電滲流非對稱化。
  
  
  502型顯微電泳法Zeta電位分析儀      原理－旋轉棱鏡技術

• 當光線通過一個直角棱鏡，目標物體似乎移動了，因為當棱鏡緩慢旋轉時，光的軌跡偏離了原來的位置。502型的顯微鏡有一個與內置檢流計結合的棱鏡（旋轉棱鏡），其旋轉速度和旋轉方向棱鏡均可以調節。在有格柵的電視監視器上觀察粒子。當我們施加電場時，顆粒產生電泳運動。當我們使用旋轉棱鏡技術調節所觀察到的粒子看上去靜止不動時，顆粒的zeta電位值（攝氏20度，水系統）將通過數字顯示出來。

• 502型顯微電泳法Zeta電位分析儀
  技術參數

   

  原理：	用戶調整旋轉棱鏡至靜止圖像。或用秒表測量的粒子的運動時間	光學系統：	光源：632.8 nm的氦氖激光器 顯微鏡的放大倍率：×280 電視顯示器：CCD單色相機和 8.4” 單色液晶顯示器
  測量范圍：	± 100毫伏
  粒徑適用范圍：	一般20nm～50µm，依賴于顆粒折射率和沉降狀況
  樣品量：	8毫升	電泳池：	截面：1 ×10毫米 材質：純二氧化硅 電極距離：4.88cm zui大電場強度：30 V / cm 陽極：鉬 陰極：鈀 電極隔室材質：聚甲醛