CMS2

COULOSCOPE CMS2 系列儀器通過電解退鍍方式測量鍍層厚度。還可使用庫侖法精確測定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對單種鍍層進行標準的STEP測試，以檢測電位差（如多層鎳涂層的質量控制）。

特性：

· 使用準確性高的電解退鍍技術（庫侖法），精確地測量多鍍層的厚度

· 圖形顯示的交互方式，易于操作

· 適用性廣泛：可測量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度，也適合測量多鍍層厚度

· 提供全面的附件產品供您選擇，可滿足特定需求

應用：

· 金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層

· 單層或多層的鍍層厚度測量

· 特別適用于通過 STEP 測試進行多層鎳測量

· 適用于 0.05 μm 至 40 μm 的鍍層厚度測量

關鍵詞：標準

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