產品系列
晶體管圖示儀

半導體分立器件測試篩選系統

靜態參數測試（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）

動態參數測試（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）

環境老化測試（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）

熱特性測試（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）

可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件

歡迎垂詢：Tel:173 -4295 -2894

ENJ-3020 測試系統

萊姆IGBT測試系統替代品天光測控IGBT測試儀

萊姆IGBT全自動測試系統替代品天光測控大功率IGBT靜態測試儀

ENJ-3020  IGBT靜態參數測試系統

系統概述

ENJ—3020測試系統（以下簡稱系統）是西安天光測控技術有限公司推出的IGBT靜態測試系統，該系統符合國家標GJB128-86和國家標準GB/T 4587-94測試規范。

系統適合工廠、研究所用做IGBT及其模塊的篩選、檢驗、分析以及器件生產廠用做生產測試，是一款針對IGBT的各種靜態參數而研制的智能測試系統。

系統標準功率源為3500V/200A，電流可擴展至2000A。

系統的自動化程度高，按照操作人員設定的程序自動工作，實現全自動化的智能測試，計算機記錄測試結果，測試結果可轉化為文本或 EXCEL 格式存儲。測試方法靈活，可*測試器件以及單個單元和多單元的模塊測試。

系統采用品牌工控機，具有抗電磁*力強，排風量大等特點

系統安全穩定，PLC 對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖。

其控制系統主要由計算機控制系統和PLC控制系統組成：

計算機控制系統

計算機控制系統是該測試設備的中心控制單元，設備有一部分的工作程序、工作時序、開關的動作狀態，數據采集等均由計算機完成。計算機

采用研華工業控制機，具有抗電磁*力強，排風量大等特點。

計算機中，裝有美國國家儀器公司生產的數據采集卡NI PCI6221卡2塊，NI PCI6221是一塊多功能的數據采集卡，具有三組數據端口，16/8個

模擬量輸入端口，兩個模擬量輸出口、兩個定時器計數器。

PLC控制系統

控制系統除工控機外，還采用了歐姆龍系列的PLC，PLC主要對設備的工作時序、開關動作等進行控制，并且與計算機進行通訊，完成了整個系統的自動控制功能；PLC不僅控制開關的動作，而且對系統中主要開關的工作狀態進行實時監控，并與硬件進行互鎖，實現了可靠的安全控制功能。

系統特征

針對IGBT的各種靜態參數而研制的智能測試系統

大功率（IV可擴展至4500A，6000V）

自動化程度高（按照操作人員設定的程序自動工作）

計算機記錄測試結果，測試結果可轉化文本或EXECL格式存儲

采用品牌工控機，具有抗電磁*力強，排風量大等特點

測試方法靈活（可*測試器件以及單個和多單元的模塊測試）

安全穩定（PLC對設備的工作狀態進行全程實時監測并與硬件進行互鎖）

萊姆IGBT測試系統替代品天光測控IGBT測試儀

測試范圍

EN-3020C系統是專為測試IGBT而設計。能夠真實準確測試出IGBT的各種靜態參數：其測試范圍如下：

1）柵極-發射極漏電流測試                     VGES、IGES

2）柵極-發射極閾值電壓測試                   Vge（th）

3）集電極-發射極電壓測試測試                 VCES、ICES

4）集電極-發射極飽和電壓測試測試             Vge（sat）、IC

5）二極管壓降測試測試                        VF、IF

6）二極管反向可恢復直流電壓測試          VR、IR

外形尺寸和電源要求

尺 寸：  800×800×1800（mm）

質 量：  210kg

環境溫度：15~40℃

工作電壓：AC220V±10%無嚴重諧波

電網頻率：50Hz±1Hz

通信接口：USB RS232

系統功耗：380W

歡迎垂詢：Tel:173 -4295 -2894