ATX210覆層測(cè)厚儀概述
ATX210覆層測(cè)厚儀是磁性、渦流一體的便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量；既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)；廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域；是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)*的儀器。
ATX210覆層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
- GB/T4956-1985 磁性方法
- GB/T4957-1985 渦流方法
- JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測(cè)厚儀
- JG889-95 《磁阻法測(cè)厚儀》
- JJG818-93 《電渦流式測(cè)厚儀》
ATX210覆層測(cè)厚儀功能特點(diǎn)
- 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)，非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽(yáng)極氧化膜等)
- 具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）
- 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
- 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
- 可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正
- 具有存貯功能：可存貯100 個(gè)測(cè)量值
- 具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)
- 可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析
- 具有電源欠壓指示功能
- 操作過(guò)程有蜂鳴聲提示
- 具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示
- 設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式
ATX210覆層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
- 測(cè)頭類(lèi)型：F | N
- 測(cè)量原理：磁感應(yīng) | 電渦流
- 測(cè)量范圍：0-1500um | 0-1500um 0-40um(銅上鍍鉻)
- 低限分辨力：0.1um
- 探頭連接方式：一體化
- 示值誤差：F | N
1. 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[2%H+1]
2. 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1]
3. 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[2%H+1.5]
4. 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
- 測(cè)量條件：F | N
1. 小曲率半徑(mm)：凸1.5 | 凹9
2. 基體小面積的直徑(mm)：ф7
3. 小臨界厚度(mm)：0.5
4. 小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10
5. 基體小面積的直徑(mm)：ф5
6. 小臨界厚度(mm)：0.3
- 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
- 統(tǒng)計(jì)功能：平均值、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
- 工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
- 測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）
- 上下限設(shè)置：有
- 存儲(chǔ)能力：100個(gè)測(cè)量值
- 關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)和自動(dòng)
- 電 源：二節(jié)AAA型（7號(hào)）1.5V電池
- 外形尺寸：110×50×23mm
- 重 量：100g
ATX210覆層測(cè)厚儀基本配置
- ATX210覆層測(cè)厚儀主機(jī)
- 鐵基體和鋁基體
- 標(biāo)準(zhǔn)片一套|五片
- 二節(jié)AA型（5號(hào)）1.5V電池
- 使用說(shuō)明書(shū)
