IGBT動態參數測試系統
用于測試 IGBTs,MOSFETs, Diode,動態交流參數
1500V/600A，短路電流2500A
IGBT動態參數測試系統
用于測試 IGBTs,MOSFETs, Diode,動態交流參數
1500V/600A，短路電流2500A
?IGBT動態參數測試系統產品簡述
ST-DPX 系列產品是主要針對 半導體功率器件的動態參數測試 而開發設計。通過DUT適配器的轉換，可測試各類封裝外觀的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs等功率器件，包括器件、模塊、DBC襯板以及晶圓。產品功能模塊化設計，根據用戶需求匹配功能單元。測試功能單元有DPT（雙脈沖測試 Double Pulse Testing，以下簡稱DPT。包含開通特性、關斷特性、反向恢復特性）柵電荷、短路、雪崩、結電容、柵電阻、反偏安全工作區等。測試方案*符合IEC60747-9標準。
產品功能及輸出功率進行了模塊化設計，滿足用戶潛在的后期需求，測試電壓電流可擴展至10KV/10KA，變溫測試支持常溫到200℃，支持生產線批量化全自動測試。
?產品特點
? 測試系統電壓以1500V為一個模塊，電流以2000A為一個模塊，可擴展至10KA/10KV
? 內置7顆標準電感負載可選用, 另有外接負載接口,可實現不同電感和電阻負載測試需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)
? 另有程控式電感箱可供選擇
? 針對不同結構的封裝外觀，通過更換 DUT適配器即可
? 可進行室溫到200℃的變溫測試,也可實現子單元測試功能
? 測試軟件具有實驗模式和生產模式，測試數據可存儲為Excel文件
? 門極電阻可任意調整, 系統內部寄生電感為小至50nH
? 系統測試性能穩定,適合大規模生產測試應用（24hr 工作）
?參數指標
