奧林巴斯日本45MG測(cè)厚儀全國(guó)*

45MG儀器是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的高級(jí)超聲測(cè)厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測(cè)厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測(cè)厚應(yīng)用。

45MG儀器在使用基本配置時(shí)，是一款易懂易學(xué)、操作簡(jiǎn)便的測(cè)厚儀，操作人員經(jīng)過(guò)zui基本的培訓(xùn)，就可完成zui常用的測(cè)厚應(yīng)用。不過(guò)，45MG儀器添加了可選軟件選項(xiàng)和探頭后，就會(huì)變成一款極為高級(jí)的測(cè)厚儀，可以進(jìn)行典型的初級(jí)儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項(xiàng)可以在購(gòu)買儀器時(shí)分別購(gòu)買，或在日后需要時(shí)購(gòu)買。

45MG超聲波測(cè)厚儀測(cè)量詳細(xì)介紹：    
雙晶探頭測(cè)量模式    從激勵(lì)脈沖后的精確延遲到*個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。
自動(dòng)回波到回波（可選）    在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔，不計(jì)漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測(cè)量 （可選）    利用單個(gè)底面回波，測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭）
單晶探頭測(cè)量模式（可選）    模式1：激勵(lì)脈沖與*個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 
模式2：延遲塊回波與*個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭） 
模式3：在激勵(lì)脈沖之后，位于*個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。
厚度范圍    0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測(cè)量zui全的范圍需要使用單晶選項(xiàng)）
材料聲速范圍    0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可選擇）    低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 
標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 
單晶選項(xiàng)：0.001毫米（0.0001英寸）
探頭頻率范圍    標(biāo)準(zhǔn)：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項(xiàng)）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

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