技術參數
型號 | QuaNix 4200 | QuaNix 4500 |
基體 | Fe磁性 | Fe/NFe磁性非磁性 |
探頭形式 | 一體 | |
顯示 | LCD數字顯示 | |
測量范圍 | 0－3000μm | Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm |
測量精度 | 0－50μm：≤±1μm， 50－1000μm：≤±1.5%， 1000－2000μm：≤±2%，2000－5000μm≤±3% | |
顯示精度 | 1μm | |
工作溫度 | －10－＋60℃ | |
溫度補償 | 0－50℃ | |
zui小基體 | 10mm×10mm | |
zui小曲率 | 凸、凹半徑：3mm/25mm | |
zui薄基體 | Fe：0.2mm，NFe：0.05mm | |
電源 | 5號電池2節 | |
重量 | 110g | |
尺寸 | 110×60×27mm | |
特點：
零位穩定：
所有涂層測厚儀測量前都要求校準零位，
可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。
儀器零位的穩定是保證測量準確的前提。
一臺好的測厚儀校零后，可以長時間保持零位不漂移，
確保準確測量
溫度補償：
涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術，以保證不同溫度下的測量精度。
紅寶石探頭：
探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會帶來很大的誤差。
*的直流采樣技術：
使得測量重復性較傳統交流技術有*的*和提高
