摘要 奧林巴斯GX71工業顯微鏡可以實現明場和暗場觀察，微分干涉和簡易的偏光觀察。是奧林巴斯的產品體系中zui高級的倒置金相顯微鏡產品，具有超大的觀察視野，而且可以同時接駁三臺攝像系統，并且進行圖像處理，編輯，功能豐富，是您科研實驗的選擇。

摘要 金相圖像系統分析儀--廣泛地應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定。原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究分析等工作。

摘要 單目筒單目倒置 放大倍數100倍-1250倍 物鏡轉換器 三孔轉換器 機械筒長160mm

摘要 HR-150A型手動洛氏硬度計是一種機械式手動測試，無電器裝置的普及型洛氏硬度計，具有良好的經濟性和實用性，使用范圍廣，操作簡便等特點。適用范圍淬火鋼，調質、退火鋼，冷硬鑄件，可鍛鑄件，鋁合金，銅，軸承鋼等

摘要 金相顯微鏡是將光學顯微鏡技術、光電轉換技術、計算機圖像處理技術*地結合在一起而開發研制成的高科技產品，可以在計算機上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進行分析，評級等以及對圖片進行輸出、打印。

摘要倒置生物顯微鏡是生物的分支，用來觀察生物切片、生物細胞、細菌以及活體組織培養、流質沉淀等的觀察和研究，同時可以觀察其他透明或者半透明物體以及粉末、細小顆粒等物體。比較普通生物：適合用于觀察、記錄附著于培養皿底部或懸浮于培養基中的活體物質，在食品檢驗、水質鑒定、晶體結構...

摘要 本系統的軟件依據數字圖像處理（即用計算機對圖像進行處理）技術，結合光學、電子學、數學、攝影技術、計算機技術等學科知識，采用面向對象的程序設計方法，實現了對金相圖像的專業分析處理，滿足材料專業工作者對圖像處理的需要。

摘要 用途用于IC元件、金相切片等微小尺寸的測量及分析。使用智能軟件測量，精確度高，有效減小人為測量誤差。易學易用，可輕松實現點到點、線到線、圓弧、半經、直經、角度等相關尺寸的精確測量與分析 。 輕松拍攝測量圖片并自定義各種測試報告。

摘要萊卡金相顯微鏡DM2500M是Leica公司2005年推出的新產品, 光學設計上采用*的 HC無限遠軸向、徑向雙重色差校正光學技術，*消除雜散光等干擾因素；在整個光學系統內,對涉及成像質量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、目鏡、照相接口等)進行*化組合，實現圖像分辨...

摘要 OLYMPUS 金相顯微鏡 BH3-MJL

摘要 圖像處理工具顯微鏡是機械、電子制造業，計量測試所廣泛使用的一種多用途計量儀器。可以用來測量量程內的任何零件的尺寸、形狀、角度和位置。　　其典型測量對象有：1、 測量各種成型零件如樣板、樣板車刀，樣板銑刀，沖模和凸輪的形狀。

摘要SH-200系列粒子檢查顯微鏡是配置了研究級專業平場消色差金相物鏡，觀察圖像更銳利，圖面平坦度處理更好，圖像還原性好不失真。尤其是在高倍顯微觀察及顯微拍照方面SH-200系列金相顯微鏡更有出色表現，是高倍顯微拍照及高倍視頻觀察理想的金相顯微鏡。SH-200系列金相顯微...

摘要 微分干涉(DIC)顯微鏡，國內研發，突破國外*的技術和價格壟斷。無限遠光學系統設計，配合專業的平場消色差長工作距物鏡，解析度高，圖像更清晰柔和，不失真。可進行簡單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察(干涉鏡檢) 。

摘要SHZ650C系列高分辨率金相單筒視頻顯微鏡，采用無限遠光學系統和同軸照明光學系統，具有高分辨率和高清晰度品質。主要應用于LCD、LCM、半導體、LED、精密微電子、IC芯片等領域的數碼成像觀察、檢測、測量和維修。可選用LED或光纖冷光源同軸照明，配置不同像素的高清攝...

摘要萊卡金相顯微鏡DM2500M是Leica公司2005年推出的新產品, 光學設計上采用*的 HC無限遠軸向、徑向雙重色差校正光學技術，*消除雜散光等干擾因素；在整個光學系統內,對涉及成像質量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、目鏡、照相接口等)進行*化組合，實現圖像分辨...

摘要 產品名稱： 徠卡Z6/Z6A/Z16/Z16A立體顯微鏡 規　　格： Z6/Z6A/Z16/Z16A 產品備注： 產品類別： 溫度檢測儀

摘要 該儀器適用一切應用領域,在機械,電子,儀表,塑膠等行業廣泛使用

摘要 該儀器適用一切應用領域,在機械,電子,儀表,塑膠等行業廣泛使用

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摘要 該儀器適用一切應用領域,在機械,電子,儀表,塑膠等行業廣泛使用

摘要 FD02-H200系列金相顯微鏡用于觀察透明、半透明或不透明的物質。

摘要 MIT300/500系列金相顯微鏡適用于對不透明或透明物體的顯微觀察。廣泛應用于機械、礦產業進行金屬、巖礦等的組織鑒定，電子半導體工業進行晶體、集成電路的檢驗和科學研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。

摘要 MIT300/500系列金相顯微鏡適用于對不透明或透明物體的顯微觀察。廣泛應用于機械、礦產業進行金屬、巖礦等的組織鑒定，電子半導體工業進行晶體、集成電路的檢驗和科學研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。

摘要 MIT300/500系列金相顯微鏡適用于對不透明或透明物體的顯微觀察。廣泛應用于機械、礦產業進行金屬、巖礦等的組織鑒定，電子半導體工業進行晶體、集成電路的檢驗和科學研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。

摘要 MIT300/500系列金相顯微鏡適用于對不透明或透明物體的顯微觀察。廣泛應用于機械、礦產業進行金屬、巖礦等的組織鑒定，電子半導體工業進行晶體、集成電路的檢驗和科學研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。

摘要透反射顯微鏡M-3030G是適用于對不透明物體或透明物體的顯微觀察。本儀器配置落射與透射照明系統、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)、大視野目鏡和內置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器...

摘要工業檢測顯微鏡 J-160Y可供IT行業大面積集成電路、晶片的觀察和檢測，鏡體機構舒適穩重、操作方式輕松快捷無限遠光學系統，長工作距離高倍物鏡(40×物鏡工作距離3.7mm)，提供了的光學性能超大移動范圍的載物臺設計，移動范圍：10英寸(250mm)×10英寸(250...

摘要MIT300/500系列金相顯微鏡適用于對不透明或透明物體的顯微觀察。廣泛應用于機械、礦產業進行金屬、巖礦等的組織鑒定，電子半導體工業進行晶體、集成電路的檢驗和科學研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。 本儀器配置落射與透射照明系統、無限...

摘要 MIT300/500系列金相顯微鏡適用于對不透明或透明物體的顯微觀察。廣泛應用于機械、礦產業進行金屬、巖礦等的組織鑒定，電子半導體工業進行晶體、集成電路的檢驗和科學研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。

摘要MIT300/500系列金相顯微鏡適用于對不透明或透明物體的顯微觀察。廣泛應用于機械、礦產業進行金屬、巖礦等的組織鑒定，電子半導體工業進行晶體、集成電路的檢驗和科學研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。 本儀器配置落射與透射照明系統、無限...

摘要MIT300/500系列金相顯微鏡適用于對不透明或透明物體的顯微觀察。廣泛應用于機械、礦產業進行金屬、巖礦等的組織鑒定，電子半導體工業進行晶體、集成電路的檢驗和科學研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。 本儀器配置落射與透射照明系統、無限...