簡述多功能x射線衍射儀的由來及發展
2021-01-21標簽：x射線衍射儀
XRD全稱x射線衍射儀（X-RayDiffraction）,利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征，經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷（位錯）和晶格缺陷等。
XRD衍射儀的適用性很廣，通常用于測量粉末、單晶或多晶體等塊體材料，并擁有檢測快速、操作簡單、數據處理方便等優點，是一個標標準準的“良心產品”。
X射線衍射發現以來近百年中x射線衍射儀的發展情況,大致可以劃分為四個階段:
①早期的照相機階段,特點是以照相底片做探測記錄器,底片可同時記錄許多衍射線,測角器構造簡單;
②中期的衍射儀階段,特點是用計數器做探測器,大大提高了衍射強度的測量準確性,但要逐個記錄衍射線,測角器構造復雜,電子技術的應用提高了此階段儀器的自動化程度;
③近代的電子計算機衍射儀階段,特點是現代計算機與X射線衍射儀的結合,提高了衍射儀的自動化程度和檢驗能力,并增加了數據分析能力,大大促進了X射線衍射術的發展;
④現代的多功能衍射儀階段,現代科學技術的高速發展對X射線檢驗提出了新的要求,發展出一些新的X射線技術,如小角散射、薄膜衍射、反射率測定和微區分析等,把多種不同功能集為一體的多功能x射線衍射儀就此誕生。
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