摘要百特激光粒度儀Bettersize2000WBettersize2000W激光粒度儀是一種專門用于河流泥沙顆粒分析的一種激光粒度儀。它是采用雙鏡頭技術的一體化激光粒度儀，其散射光發生與探測系統是由一個大功率光纖半導體激光器、樣品池、兩個高精度的進口透鏡組和兩組探測器陣...

摘要 德國克勞斯(KLOTZ)有限公司是*致力于激光顆粒測量儀器的研究與生產的專業廠家，產品獲得多項磚利，并贏得德國國家發明大獎。為世界杰出企業配套生產(如西門子、MAHLE)激光元器件及傳感器。

摘要 實驗室油顆粒度儀離線取樣艙的結合，可實現大小粘度的各類油液的檢測，優化的檢測方案和評判，可滿足標準的測試評判和自定義設計檢測。

摘要 便攜式油顆粒度儀用于測量磷酸酯抗燃油、汽輪機油、變壓器油及其他各種輔機用油等油品的顆粒污染度。

摘要 Zetasizer Auto 馬爾文納米粒度儀通過其簡便的操作可幫助您提高精度和可靠性。Zetasizer APS 可進行蛋白質大小分布表征，從而在不同溶劑和緩沖液條件中確定蛋白質的締和比例，加速了蛋白質*環境條件的開發。

摘要 Zetasizer μV納米粒度儀于蛋白質，增加了實驗室高級光散射技術功能，從而提高了蛋白質表征解決方案的精確性、可靠性和易用性。

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摘要德國新帕泰克 濕法粒度儀 HELOS/CUVETTE技術參數測試范圍0.1－3500微米數據處理Fraunhofer或Mie理論測量時間約20秒(從開始測量到顯示分析結果)遮光比可達50%分散池容積： 6毫升、50毫升內置超聲波：60W, 功率和時間可調可調速率的攪拌...

摘要德國新帕泰克 氣霧、粉霧劑粒度儀 HELOS-INHALER技術參數氣霧劑測試激光粒度儀（用于MDI，DPI，Nebulizer）（備注：做玻璃管）參 數指 標分散器MDI, DPI, Nebulizer標準配置激光系統粒度范圍：0.25-1750微米 (可選擇不同的...

摘要德國新帕泰克 干濕二合一粒度儀 HELOS-OASIS技術參數參 數指 標測試范圍干法：0.1-3500微米 (可選擇不同的量程以獲得的測試精度)濕法： 0.1-875微米(可選擇不同的量程以獲得的測試精度)重復性精度σ 0.04% (同一產品單次取樣重復測試結果的誤...

摘要德國新帕泰克 濕法粒度儀 HELOS-QUIXEL技術參數測試范圍0.1－3500微米數據處理Fraunhofer或Mie理論測量時間約20秒(從開始測量到顯示分析結果)遮光比可達50%分散池容積：250毫升、1000毫升材質： 整體不銹鋼樣品循環系統內置超聲波：60...

摘要德國新帕泰克 干法粒度儀 HELOS-RODOS技術參數參數指 標粒度范圍0.1-3500微米 (可選擇不同的量程以獲得的測試精度)測量精度σ 0.04% (同一產品單次取樣重復測試結果的誤差)σ 0.3% (同一產品分次取樣測試結果的誤差)光源5mw 氦氖激光、波長...

摘要德國新帕泰克 氣霧、粉霧劑粒度儀 HELOS-SPRAYER技術參數參 數指 標粒度范圍0.25-1750微米 (可選擇不同的量程以獲得的測試精度)分散器MDI, 噴霧瓶（Spray bottle）噴射原理基于可自動調節、可控的過程理論標準配置激光系統光源：5mw氦氖...

摘要德國新帕泰克 濕法粒度儀 HELOS-SUCELL技術參數根據“干樣干測，濕樣濕測”的測試理念，如果被測量的物料是漿料、懸浮液或乳濁液等，德國新帕泰克公司提供以下不同型號的濕法激光粒度儀來測試物料原始狀態下的粒度分布：型號：HELOS/SUCELL－Suspensio...

摘要德國新帕泰克 超聲衰減粒度儀 NIMBUS技術參數濃度范圍1－70% （體積濃度）測試范圍0.01－3000 微米(Xmax / Xmin 1000)測試精度σ 0.5% (同一產品單次取樣重復測試結果)σ 1.0% (同一產品分次取樣測試結果)溫度范圍≤ 80℃樣...

摘要德國新帕泰克 超聲衰減粒度儀 OPUS技術參數濃度范圍1－70% （體積濃度）測試范圍0.01－3000 微米(Xmax / Xmin 1000)測試精度σ 1.0%溫度范圍0－150℃壓力范圍0－40 bar溶液pH值1－14測試時間 1 min保護等級IP65 ...

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摘要 在線粒度儀是一項提高產品質量、降低電耗、提高產量、提高生產的自動化水平*的裝置。采用MIE散射原理，可以對流動的顆粒粒度分布進行實時監測，并提供客戶關心的各種粒度數據，，是企業節能降耗的可靠助手。

摘要 BI-XDC圓盤式離心/沉降粒度儀XDC以X-射線為檢測光源，避免了對小顆粒樣品的消光校正，廣泛應用于陶瓷和金屬粉末等行業的質量控制。

摘要 BI-DCP 圓盤式離心/沉降粒度儀廣泛應用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業的質量控制方面。

摘要 EyeTech粒度分析儀*的激光阻隔時間分析技術（LOT），可快速準確地進行粒度分析；通過使用視頻的精密動態圖像分析技術，準確描述非球形材料；其測量結果與顆粒或介質的物理光學特性無關。

摘要 173Plus多角度粒度分析儀突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，實現在同一臺粒度分析儀中，即可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，可達40%w/v。

摘要 90Plus亞微米激光粒度分析儀基于動態光散射原理，是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。

摘要 90Plus PALS 高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀與傳統基于頻移技術的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍，可適用于諸如低介電常數、 高粘度、 高鹽度以及等電點附近這些測量條件下的樣品測量。

摘要 omni高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量，是目前市場上功能大的粒度與Zeta電位分析儀。

摘要 美國MAS在線檢測粒度分析儀這款新型的聲波傳感器粒徑測量可用在許多工業生產; 如加工管道、化學反應器、瓷磚印刷設備、半導體 CMP 拋光、石油生產/加工、藥品輸送系統等，同時具有顯著的經濟效益。

摘要 美國MAS高分辨納米粒度儀高分辨率粒度分布（PSD）測量 的新的技術，包括顆粒檢測高靈 敏度、動態范圍和納米顆粒優化分析。精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關的分析。自動/無人操作。所有組件都在一個簡易單一窗口界面控制和操作。

摘要 CHDF3000 高分辨率納米粒度儀高分辨率粒度分布（PSD）測量 的新的技術，包括顆粒檢測高靈 敏度、動態范圍和納米顆粒優化分析。精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關的分析。自動/無人操作。所有組件都在一個簡易單一窗口界面控制和操作。

摘要CHDF4000 高分辨率納米粒度儀CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術對高分辨率的粒度分布（PSD）進行測量，包括高粒子檢測靈敏度、動態范圍、納米粒子的優化分析；CHDF4000可提供完整范圍5納米至NM3微米，真實的PSD數據；通過粒子分離真正的PS...

摘要CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術對高分辨率的粒度分布（PSD）進行測量，包括高粒子檢測靈敏度、動態范圍、納米粒子的優化分析；CHDF4000可提供完整范圍5納米至NM3微米，真實的PSD數據；通過粒子分離真正的P...

摘要 AREPA 原液在線納米粒度儀這款新型的聲波傳感器粒徑測量可用在許多工業生產; 如加工管道、化學反應器、瓷磚印刷設備、半導體 CMP 拋光、石油生產/加工、藥品輸送系統等，同時具有顯著的經濟效益。