摘要BX-Y1288導(dǎo)電靜電橡膠電阻率測試儀含有炭黑或電離物質(zhì)的導(dǎo)電性能或耗損性能的硫化橡膠和熱塑性橡膠經(jīng)制備的試樣在實(shí)驗(yàn)室對其體積電阻率的測定，在橡膠配料中摻入電離物質(zhì)也可以使混煉膠具有抗靜電性能；用于電阻率低于10^10Ω.m的物質(zhì).用于導(dǎo)電和靜電產(chǎn)品的橡膠的體積電阻...

摘要 參照ASTM D 991-1989 橡膠特性.導(dǎo)電橡膠及靜電橡膠制品的體電阻系數(shù)測試方法BX-Y1287液晶顯示導(dǎo)電橡膠及靜電橡膠電阻率測試儀用于導(dǎo)電和靜電產(chǎn)品的橡膠的體積電阻率的測定

摘要 參照GB 12014-2009 防靜電工作服BX-Y1286點(diǎn)對點(diǎn)電阻測試儀用于測量防靜電工作服、織物、地毯、絕緣材料的點(diǎn)對點(diǎn)電阻測量。

摘要 BX-Y1285液晶顯示電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測試儀適合電纜研究部門，電纜廠，對于高壓交聯(lián)電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率的測試。中文或英文兩種語言。

摘要BX-Y1284電線電纜四端測量電阻率測試儀適用于電線電纜、漆包線、銅線、合金線、鋁線等導(dǎo)體線束線材測量適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實(shí)驗(yàn)室；對產(chǎn)品質(zhì)量分析電阻、電阻率、電導(dǎo)率參數(shù).液晶顯示，自動分析，自動讀數(shù)，具有溫度補(bǔ)償 ，單位切換，自動量程，選配：PC軟件...

摘要 BX-Y1283化學(xué)轉(zhuǎn)化膜四端測量表面接觸電阻測試儀適用于化學(xué)轉(zhuǎn)化材料及通訊器材零部件表面轉(zhuǎn)化膜測量。

摘要 BX-Y1251G-1600高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1251F-1400高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1251E-1200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1251D-1000高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1251C-800高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1251B-600高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1251A-400高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1251-200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理，用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1250G-1600高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1250E-1400高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1250F-1200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1250D-1000高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1250C-800高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1250B-600高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1250A-400高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1250-200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等。

摘要 BX-Y1249G-1600導(dǎo)體材料四端測量高溫電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)體材料電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)測量需求.常用于金屬類導(dǎo)體材料及非金屬類導(dǎo)體材料測量。

摘要 BX-Y1249F-1200導(dǎo)體材料四端測量高溫電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)體材料電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)測量需求.常用于金屬類導(dǎo)體材料及非金屬類導(dǎo)體材料測量。

摘要 BX-Y1245D-1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)。

摘要 BX-Y1245C-800高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)。

摘要 BX-Y1245B-600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)。

摘要 BX-Y1245A-400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)。

摘要 BX-Y1245-200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)。

摘要BX-Y1227A全自動四探針電阻測試儀，全自動化運(yùn)行測量系統(tǒng)，PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)方法測試半導(dǎo)體材料電阻率和方塊電阻；可設(shè)定探針壓力值、測試點(diǎn)數(shù)、多種測量模式選擇,可顯示：方阻、電阻率、顯示2D,3D掃描/數(shù)值圖、溫濕度值、提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電...

摘要BX-Y1227全自動四探針電阻測量測試儀，全自動化運(yùn)行測量系統(tǒng)，PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)方法測試半導(dǎo)體材料電阻率和方塊電阻；可設(shè)定探針壓力值、測試點(diǎn)數(shù)、多種測量模式選擇；真空環(huán)境，可顯示：方阻、電阻率、顯示2D,3D掃描/數(shù)值圖、溫濕度值、提...

摘要 BX-Y1225C 1000KG自動極片平面探頭電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集。

摘要 BX-Y1225B 500KG自動極片平面探頭電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集。

摘要 BX-Y1225A 300KG自動極片平面探頭電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集。

摘要 BX-Y1225 200KG自動極片平面探頭電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集。

摘要 BX-Y1224C 1000KG兩探針自動極片電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集。

摘要 BX-Y1224B 500KG兩探針自動極片電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集。

摘要 BX-Y1224A 300KG兩探針自動極片電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集。

摘要 BX-Y1224 200KG兩探針自動極片電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集。

摘要BX-Y1223A液晶屏顯雙極板電阻測試儀用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測量和分析。4.3吋液晶屏幕顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率、電阻率、壓強(qiáng)，自動測量、集成電路系統(tǒng)、恒流輸出...

摘要BX-Y1223液晶顯示雙極板接觸電阻體電阻測試儀用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測量和分析。4.3吋液晶屏幕顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率、電阻率、壓強(qiáng)，自動測量、集成電路系統(tǒng)、...

摘要 BX-Y1222A四探針自動雙極板接觸電阻體電阻測試儀用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測量和分析。通過PC軟件操作界面運(yùn)行，四探針低阻測量和接觸電阻分析，自動生成報(bào)表，自動獲得壓力變化下電阻，的變化圖譜，自動運(yùn)算.統(tǒng)計(jì)分析。

摘要 BX-Y1222四探針自動雙極板接觸電阻體電阻測試儀用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測量和分析。通過PC軟件操作界面運(yùn)行，四探針低阻測量和接觸電阻分析，自動生成報(bào)表，自動獲得壓力變化下電阻，的變化圖譜，自動運(yùn)算.統(tǒng)計(jì)分析。

摘要 BX-Y1219 恒流低阻雙電四探針測試儀的導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質(zhì)要求測量的材料.

摘要 BX-Y1219 恒流低阻雙電四探針測試儀的導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質(zhì)要求測量的材料.