本標準包括用直射法、斜射法或兩者兼用對奧氏體鋼鍛件進行接觸法脈沖反射式超聲波探傷的規(guī)范和操作步驟。凡在定貨合同或技術條件中規(guī)定要按本標準對奧氏體鋼鍛件進行超聲波探傷時，必須執(zhí)行本標準。但無磁護環(huán)件應按JB/ZQ6112《汽輪發(fā)電機用鋼質護環(huán)的超聲波檢驗方法》進行超聲波探傷，不得適用本標準。
本標準是參考ＡＳＴＭＡ745-85標準制訂的。
同本標準有關的標準有：
JB1834《Ａ型脈沖反射式超聲波探傷儀技術條件》
1定貨條件
1.1 定貨要求按本標準進行超聲波探傷時，需方應在定貨合同中規(guī)定質量驗收等級。
1.2擬定技術條件時，供方廠應將說明掃查表面，掃查方向、校準槽的位置和深度、波束覆蓋范圍的超聲檢驗簡圖以及有關說明，提請需方認可。
2設備
2.1 儀器
2.1.1應采用Ａ型脈沖反射式超聲波探傷儀。儀器的工作頻率至少要有0.5-5ＨＭz。
2.1.2儀器的探傷性能指標，包括工作頻率、垂直線性、水平線性、動態(tài)范圍和衰減器的精度，應符合JB1834的規(guī)定?？紤]到對粗晶材料的檢測，儀器應具有深度補償裝置和足夠的功率。
2.2 探頭
2.2.1所用儀器和探頭的組合靈敏度，應滿足所探工件zui大聲程處的探測靈敏度要求。分辨率、盲區(qū)、信噪比、工作頻率誤差應符合JB1834的規(guī)定。探頭（包括直探頭和斜探頭）應沒有明顯影響測量精度的偏斜和雙峰。
2.2.2用直射波束掃查時，應采用晶片直徑為20--35mm的換能器。
2.2.3用斜射波束掃查時，應采用相當于晶片直徑20--30mm的換能器。斜射波束在工件中的折射角應為30°--70°。
2.2.4為了測定缺陷，必要時也可以采用其它探頭。
2.3 耦合劑
在換能器和探測面之間應使用合適的、具有良好潤濕特性的耦合劑。校正和探傷應采用同樣的耦合劑。
2.4 對比試塊
2.4.1所有對比試塊都必須符合有關超聲檢驗用鋼質對比試塊的制造和控制方法的標準。但由于奧氏體鋼的特殊性質，不要求同上述標準一致。
2.4.2對比試塊的晶粒大小（用測量對比試塊的相對透聲性表示）應同被測鍛件大致相近。但由于大型奧氏體鋼鍛件透聲性變化很大，因此應選用同被測鍛件平均透聲性相近的試塊，即可以采用晶粒較粗或較細的補充試塊。
2.4.3在條件允許時，可以在鍛件上有代表性的部位加工一個或幾個適當大小的對比孔或槽，代替試塊作為校正和探傷的基準。工件上的這些孔或槽待以后加工時去掉。如果這些孔或槽以后加工去不掉，則在加工前必須征得需方同意。
3對鍛件的要求
3.1鍛件原則上應在zui終熱處理后，精加工前加工出探傷面進行超聲探傷。除在定貨合同中另有規(guī)定外，探傷面的表面粗糙度高度參數(shù)輪廓算術平均偏差Ｒa值一般不得大于3.2μm。探傷面表面應無氧化皮、漆皮、臟物等。
3.2 鍛件應加工成簡單的形狀，以利于掃查時聲束的覆蓋。
3.3在某些情況下，例如對于異形鍛件，要保證的掃查體積是不現(xiàn)實的。對于這樣的鍛件，應盡可能都掃查到。表明探傷覆蓋范圍的規(guī)定，應交需方認可。
4掃查
4.1應至少在兩個互相垂直的方向上盡zui大可能掃查鍛件的所有區(qū)域。相鄰兩次掃查之間的覆蓋應不小于晶片直徑的15%，掃查速度應不超過150mm/s。
4.2對于圓餅鍛件，至少要從一個平面上用直探頭掃查，可能時還應從圓周上作徑向掃查。這里所說的圓餅，是指直徑超過高度尺寸的圓柱體。這種鍛件盡管在探傷時可能有中心孔或臺階，但仍屬此類。
4.3對于長方形、實心圓柱形、環(huán)形和空心鍛件，應采用直探頭從整個外表面（圓周面或端面）進行掃查。當長度同直徑的比超過6：1或軸向長度超過600mm，要盡可能從兩端面作軸向掃查。在因為衰減不可能軸向穿透時，可以用軸向斜射束代替軸向直射波束。對內外徑的比大于或等于0.6、壁厚小于或等于200mm的環(huán)形和空心鍛件，還要用斜探頭從外徑或內徑表面沿順時針和反時針進行掃查，以確保的體積覆蓋（或按定貨條件規(guī)定的覆蓋范圍覆蓋）。
5探測頻率
5.1應采用1--2.5MHz的標稱頻率檢查鍛件。由于衰減的影響，必要時可以采用0.5MHz。
5.2采用0.5ＭＨz也無法探測的某些區(qū)域，經(jīng)供需雙方協(xié)商，可以采用其它無損檢測方法，以保證鍛件質量。
6縱波檢驗
6.1 校正方法
縱波檢驗的靈敏度，應根據(jù)定貨鍛件的厚度和要求的質量等級，在適當厚度和當量的平底孔試塊上校正。當被探鍛件厚度小于或等于150mm時，可以采用當量試塊比較法或距離--振幅曲線法確定探測靈敏度。當被探鍛件厚度大于150mm但小于或等于600mm時，可以采用距離--振幅曲線法確定探測靈敏度。當被探鍛件厚度大于600mm時，可以按5級鍛件或合同規(guī)定進行底波檢驗。對壁厚小于或等于200mm的空心圓形鍛件，可以用軸向斜射掃查代替端面直射掃查，為此，可以在圓周掃查所要求的軸向槽上或為軸向斜射掃查特制的橫向槽上進行校正。
6.2 校正步驟
6.2.1采用合適的探測頻率，在鍛件無缺陷的部位上把底波高度調至儀器屏高的80%，以此靈敏度作為當量試塊比較法、距離－振幅曲線法的初始校正基準。如果在此靈敏度上相當于zui大探測深度上的平底孔回波高度小于屏高20%或小于距離--振幅曲線在此處的高度，則應進一步提高儀器的靈敏度，使其達到屏高的20%或達到曲線高度。
6.2.2在大鍛件中，距離--振幅曲線的一部分可能會超出儀器的垂直性極限。為此，在繪制曲線時，可以將曲線的左半部分降低若干分貝繪制，也可以臨時記錄超出部分的分貝值，以便于對該區(qū)域的缺陷進行評價。
7橫波檢驗
7.1對壁厚小于等于200mm而且內外徑的比大于0.6的環(huán)狀或空心鍛件，應從外圓表面做橫波檢驗。可以采用zui大表面長度為30mm的槽作為校正基準，其長度方向垂直于聲傳播方向，深度按所要求的質量等級確定。可以做成寬度不大于其深度兩倍的矩形槽，也可以做成張角60°--75°的角槽。
7.2采用刻槽法時，一般需將探頭置于外圓表面上，聲束垂直于刻槽長度方向，移動探頭并調整儀器靈敏度，使外壁刻槽第二次反射（Ｗ形反射）或內壁刻槽第二次反射（Ｎ形的反射）回波高度至少為屏高的20%。連接外壁刻槽*、第二次回波峰值點或內壁刻槽*、二次回波的峰值點，以此作為全跨距校正的基準線。
7.3如果采用全跨距校正從內外壁表面的刻槽上都得不到至少為屏高20%的第二次回波，則應采用半跨距校正（此時內外壁均應各刻一槽，并使其互不影響），使來自外壁刻槽的*次回波高度至少為屏高20%，連接內壁刻槽*次回波的峰值點，以此作為半跨距校正的基準線。
7.4長的而且內徑小的筒形鍛件，是難以從內徑表面上進行探傷的。因此，內徑小于500mm，而且長度超過900mm的筒形鍛件，通常都不從內徑表面上進行掃查。
8材料評價
粗晶奧氏體材料經(jīng)常顯示草狀回波，在高靈敏度下更是如此。因此，重要的是要嚴格判別記錄信號和拒收信號，以確定它們是缺陷引起的還是晶粒組織引起的。為了更準確地定出zui小缺陷的尺寸，要求制備幾套不同晶粒度的校正試塊，以便能將缺陷區(qū)的衰減同試塊作合理的比較。由于大型奧氏體鍛件的衰減通常會有較大的變化，因此允許用其它校正試塊比較，以便合理地評價拒收信號。為了校正和評價信號，經(jīng)需方同意，也允許在鍛件本體有代表性的部位鉆孔對比。底波損失不僅由內部缺陷引起，而且同粗晶或不均勻的晶粒組織、耦合上的變化、非平行反射面以及在判定底波損失時必須考慮到的其它因素有關。
9質量驗收等級
需方可以采用本章各條所述質量等級之一，作為定貨要求。
9.1 縱波法探傷時的鍛件質量等級
9.1.1凡回波高度大于或等于所測缺陷深度處距離--振幅曲線的鍛件，均不能驗收。其中：
1級鍛件:：以直徑3mm平底孔距離--振幅曲線為基準；
2級鍛件：以直徑6mm平底孔距離--振幅曲線為基準；
3級鍛件：以直徑10mm平底孔距離--振幅曲線為基準；
4級鍛件：以直徑13mm平底孔距離--振幅曲線為基準；
5級鍛件：用底波反射法探傷，在鍛件無缺陷部位將底波調至屏高80%，因缺陷信號而引起底波降低為屏高5%以內時，應視為不合格。
9.1.2采用的質量等級應隨定貨鍛件的厚度、種類、大小、工況而定。在一般情況下，可以參照下表確定鍛件的質量等級，特殊情況下由供需雙方協(xié)商。
| 鍛件厚度mm | ≤76 | ≤200 | ≤300 | ≤600 | ≥600 |
| 可達到的質量等級 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 |
9.2 橫波法探傷時的鍛件質量等級
無論全跨距校正或半跨距校正，缺陷回波高度大于或等于基準線回波高度的
鍛件均不能驗收。其中：
1級鍛件：槽深為鍛件交貨厚度的3%;
2級鍛件：槽深為鍛件交貨厚度的5%，但zui大為6mm。
10 記錄
下述波高的單個或密集缺陷信號的位置和取向應做記錄：
a.由于缺陷波的存在使底波降為滿屏25%以下時，應做記錄。對于有同樣底
波損失而無缺陷信號的區(qū)域，要以較低頻率作進一步的掃查，如仍不成功，則
該區(qū)應作為不能探傷區(qū)記錄。
b.不同于一般噪聲的信號（即探頭在鍛件表面移動25mm以上時，它們在示波
屏上左右游動），應做記錄。
C.大于基準合格線50%的信號，應做記錄。
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附加說明:
本標準由德陽大型鑄鍛件研究所提出并歸口。
本標準由北京重型機械廠負責起草。
本標準主要起草人鄭中興。
機械工業(yè)部重型礦山機械*1985-02-28發(fā)布 1985-05-01實施
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