a)         基體金屬特性
        對于磁性方法涂層測厚儀，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對渦流方法涂層測厚儀，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
b)        基體金屬厚度
        檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3)中的某種方法進行校準。
c)         邊緣效應
        不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
d)        曲率
不應在試件的彎曲表面上測量。
e)         讀數次數
        通常由于涂層測厚儀的每次讀數并不相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。
f)         表面清潔度
        測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。