M Electronics主機介紹-Solution非破壞性測漏儀：

TME Solution-C™測試系統藉由搭配專用的腔室進行無損、高靈敏的加壓或真空衰減泄漏程序，可定量檢測無法通過檢修口進入的產品、易彎曲的醫材、藥品或食品包裝，其檢測出小至5微米的孔之泄漏，測試后的產品可再送回裝配或包裝生產線，這些密封測試在當今工業中已廣泛使用。

l   代用腔室(Surrogate chambers)是使用專有技術定制設計和制造的，可地提高特定產品或包裝上測試的靈敏度。

l   非破壞性真空或壓力衰減泄漏測試所產生的高重復性定量結果，避免了測試過程中良品的損失。

l   觸控屏選單可輕松輸入和存儲多達100個程序，并具有存儲多達5000個的測試結果數據。

l   可以使用多種度量單位，包括PSI、In H2O、kPa和mbar。

l   FDA CFR Part 11數據保護是TME   Solution-C™儀器的標準配置，并且校準可追溯到NIST。

l   實時統計分析和質量控制圖可依照需求查看，以實現的過程控制。

l   雙向RS232連接阜是數據收集和遠程參數控制的標準配置；以太網連接可用于將數據從儀器傳輸到局域網。