隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，掃描電子顯微鏡被越來越多的應(yīng)用在不同的科研領(lǐng)域內(nèi)。EM科特CUBE系列臺式掃描電鏡，采用高質(zhì)量的模塊組件與智能化的操控軟件，能夠滿足質(zhì)量生產(chǎn)和科學(xué)研究中的大部分微觀觀察、測量及分析需求。

EM科特（EmCrafts）CUBE系列臺式掃描電鏡，是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，EM科特CUBE系列占地面積小，無需特殊安裝環(huán)境，高便攜性能使其可遵照客戶服務(wù)指南任意移動SEM設(shè)備。

EM科特CUBE系列臺式電鏡擁有8大技術(shù)特點，使用戶在測試樣品時既可保證圖像質(zhì)量，又能獲得更佳的體驗。下面小編來為大家介紹一下它們。

1-30kV高性能電源
在掃描電鏡測試時，加速電壓的選擇對于圖像質(zhì)量有著顯著影響。較寬的電壓選擇可以從容面對不同的樣品測試。CUBE系列臺式掃描電鏡搭載高性能的高壓電源，電壓范圍為1kV到30kV，每1kV電壓為一步進，連續(xù)可調(diào)。根據(jù)不同樣品的不同特性，選擇適合的電壓進行測試，解決您的使用煩惱。

如圖所示，在30kV的加速電壓下，二次電子分辨率能夠達(dá)到5nm，這對于大部分的材料形貌分析來說已經(jīng)能夠從容面對。并且在觀察不到電樣品的時候，可以使用低加速電壓進行觀察。

為了能夠獲得更好的拍攝效果，可以針對不同的樣品進行加速電壓的選擇以獲得的圖像。

預(yù)對中燈絲

由于高能電子的產(chǎn)生原理，燈絲成為了消耗品。一般情況下燈絲燒斷后，需要操作人員調(diào)整燈絲和韋氏帽的高度，才能使電鏡達(dá)到測試要求。但是對于用戶來說，調(diào)整燈絲是極為耗費時間的，且操作人員還有可能因為調(diào)整技術(shù)及角度的問題導(dǎo)致燈絲達(dá)不到理想測試要求，從而造成圖像像質(zhì)量差，無法觀測樣品。

為了這一情況，提高用戶的使用體驗，CUBE系列臺式掃描電鏡在設(shè)計之初便采用了預(yù)對中的鎢燈絲。當(dāng)燈絲達(dá)到使用壽命后，只需要像插拔插座一樣，即可快速更換燈絲，無需進行額外調(diào)整，方便快捷減少損耗。

SE和BSE探測器

CUBE系列臺式掃描電鏡配備自主研發(fā)的高品質(zhì)二次電子探測器與背散射探測器，高品質(zhì)的探測器對樣品表面形貌十分敏感，可快速分析區(qū)分微區(qū)內(nèi)的成分和結(jié)構(gòu)。

CUBE系列臺式掃描電鏡SE與BSE探測器，可選擇單通道/多通道，或是組合使用，多種方案的選擇確保用戶對樣品成像質(zhì)量的把控。

超大樣品室

對于測試人員來說，越大的樣品室越易使用，CUBE系列臺式掃描電鏡擁有超大樣品室，使得一些大尺寸樣品可以在不經(jīng)過處理的前提下直接放入樣品室，進行分析測試。大大節(jié)約了前期樣品預(yù)處理的時間。

下圖為10cm長的樣品，可以直接放入樣品室拍攝。