2.初步檢測:將測試樣品與標準要求進行比較,滿足要求后直接放入高低溫試驗箱。
3、樣品斷電時,試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內,試驗箱(室)內溫度應降至-50℃,保持4小時;不要在樣品通電狀態下降溫,這一步非常重要,因為芯片本身在通電狀態下會發熱,降溫會很慢,必須先凍透,再通電試驗。
4、在低溫階段結束后5min將試驗樣品轉換為已調整的樣品90℃保持在高溫試驗箱(室)內4h或者直到測試樣品達到溫度穩定,與低溫測試相反,加熱過程不斷電,芯片內部溫度保持高溫,4小時后執行A、B測試步驟。
5、進行老化測試,觀察數據存在數據對比錯誤。
6、高溫和低溫試驗分別重復10次。
7、重復上述實驗方法,以完成三個循環。根據樣品的大小和空間的大小,時間可能略有誤差。
8、恢復:試驗樣品從高低溫試驗箱中取出后,應在正常試驗大氣條件下恢復,直至試驗樣品達到溫度穩定。
9、后檢測:根據標準中的損傷程度等方法評估檢測結果。
如果高低溫試驗箱測試過程中沒有正常工作,則視為測試失敗。
免責聲明
客服熱線: 15267989561
加盟熱線: 15267989561
媒體合作: 0571-87759945
投訴熱線: 0571-87759942
下載儀表站APP
Ybzhan手機版
Ybzhan公眾號
Ybzhan小程序