涂層測(cè)厚儀與無損涂層測(cè)厚儀的差別，重要如下所述。涂層測(cè)厚儀跟無損涂層測(cè)厚儀，都是用來丈量資料名義厚度的，然而涂層測(cè)厚儀與無損涂層測(cè)厚儀之間存在必定的差別。蘭泰儀器為大家詳解分析一下涂層測(cè)厚儀與無損涂層測(cè)厚儀之間存在怎樣差別。

涂層測(cè)厚儀與無損涂層測(cè)厚儀的差別：

涂層測(cè)厚儀，重要用在名義處置行業(yè)，是用來丈量金屬或塑膠名義的涂層厚度。

無損涂層測(cè)厚儀，分為磁性跟渦流兩種，也有磁性渦流二合一兩用型的。常用于丈量底材是金屬的名義鍍層的厚度，以是也叫做鍍層測(cè)厚儀。

無損涂層測(cè)厚儀，分為磁性跟渦流兩種，也有磁性渦流二合一兩用型的。常用于丈量底材是金屬的名義鍍層的厚度，以是也叫做鍍層測(cè)厚儀。

磁性測(cè)厚儀專丈量磁性金屬如鋼鐵下面鍍層厚度(鍍層除磁性金屬，如鋼鐵、鎳以外)，非磁性的銅、鋁、錫等下面的鍍層就測(cè)不了。渦流測(cè)厚儀專丈量非磁性金屬，比方銅、鋁等下面的絕緣層厚度(涂層必需長(zhǎng)短導(dǎo)電資料)。

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