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冷熱沖擊試驗箱主要針對電工電子產(chǎn)品及其原始設(shè)備，用于考核產(chǎn)品對周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計定型的鑒定試驗和批產(chǎn)階段的例行試驗中重要的試驗，在某些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗。

冷熱沖擊試驗箱多用于高溫、低溫瞬時變化的條件下，環(huán)境模擬試驗產(chǎn)品的物理特性及其它相關(guān)特性，經(jīng)檢驗后，判定產(chǎn)品性能，在產(chǎn)品設(shè)計中是否仍能滿足預(yù)定的要求，改進(jìn)、鑒定和出廠檢驗。

冷熱沖擊試驗箱引起的失效現(xiàn)象如下所示：

為確保電子產(chǎn)品有高可靠性，除進(jìn)行相對固定的溫度、濕度試驗外，隨著產(chǎn)品的耐濕性提高，對溫度沖擊試驗的要求也不斷增加。

1.啟動馬達(dá)時周圍器件的溫度急劇上升，關(guān)閉馬達(dá)后周圍器件會出現(xiàn)溫度驟然下降；

2.溫度的過度升高導(dǎo)致焊錫回流現(xiàn)象出現(xiàn)；

3.在加工過程中，元件可能受到嚴(yán)重?zé)釕?yīng)力的影響，如：使用焊錫焊時;

4.由于產(chǎn)品精度要求，使元件不斷遭受較大的熱應(yīng)力;

5.在溫度較低的環(huán)境中連接到電源上，導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生陡峭的溫度梯度；在溫度較低的環(huán)境中切斷電源可能會導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生反溫度梯度。

冷熱沖擊不同于一般濕熱環(huán)境，它是在常溫條件下，通過冷熱沖擊的作用，很難發(fā)現(xiàn)潛在的故障。影響冷、溫沖擊試驗的多半因素有試驗溫度范圍、接觸時間、循環(huán)次數(shù)、試樣重量、熱負(fù)荷等。如有其它環(huán)境試驗箱疑問，可咨詢相關(guān)人員。