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芯片設計者正開始在自己的復雜IC上設計測試與測量儀器。
在IC中設計測試儀器的潮流開始于CPU核心與總線的數字調試硬件。
現在,設計者也在高速I/O塊中建立分析儀器。
設計者正在高頻芯片的內部作業中集成更復雜的模擬與RF測試儀器,如讀取通道IC。
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