歐美克納米粒度及電位分析儀是珠海歐美克儀器有限公司在成功引進(jìn)和吸收納米顆粒表征技術(shù)后，在原納米粒度分析儀基礎(chǔ)上進(jìn)一步增加Zeta電位測試功能而推出的新一款產(chǎn)品。它具有*的粒度和電位分析功能，能滿足廣大納米材料、制劑開發(fā)和生產(chǎn)用戶的顆粒粒度和表面電位的測試需求。

該儀器融合M3-PALS相位分析檢測技術(shù)，采用進(jìn)口雪崩式光電二極管（APD）檢測器和He-Ne氣體激光器等，加上精確的內(nèi)部溫控技術(shù)、密閉光纖光路以及先進(jìn)軟件算法，保障了數(shù)據(jù)的高重復(fù)性、準(zhǔn)確性和靈敏度。

開通歐美克納米粒度及電位分析儀測試軟件的“ER/ES  Features”模塊，首先滿足了下述數(shù)據(jù)合規(guī)性要求：

• 訪問控制：只有經(jīng)許可的人員才能進(jìn)入和使用系統(tǒng)。

• 權(quán)限設(shè)置：應(yīng)當(dāng)對進(jìn)入和使用系統(tǒng)制訂授權(quán)、取消和授權(quán)變更的操作規(guī)程。

• 數(shù)據(jù)完整性：是指數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性，用于描述存儲的所有數(shù)據(jù)值均處于客觀真實(shí)的狀態(tài)。

• 審計追蹤：有一系列有關(guān)計算機(jī)操作系統(tǒng)、應(yīng)用程序及用戶操作等事件的記錄，用以幫助從原始數(shù)據(jù)追蹤到有關(guān)的記錄、報告或事件，或從記錄、報告、事件追溯到原始數(shù)據(jù)。

• 電子簽名：各類數(shù)據(jù)中加入了用于識別簽名人身份并表明簽名人認(rèn)可其中內(nèi)容的數(shù)據(jù)。

歐美克納米粒度及電位分析儀依照GMP規(guī)范要求，加強(qiáng)了電子數(shù)據(jù)安全性，從邏輯安全性和物理安全性兩個維度對電子數(shù)據(jù)進(jìn)行防護(hù)。

邏輯安全性方面，通過軟件自身的權(quán)限控制對數(shù)據(jù)的訪問、錄入、修改和刪除等操作，確保不被人為誤操作或有意的篡改行為而影響數(shù)據(jù)安全。

物理安全性方面，是指對數(shù)據(jù)存儲的介質(zhì)（如硬盤、光盤、服務(wù)器等）進(jìn)行保護(hù)，確保系統(tǒng)本身不會因?yàn)槲锢斫橘|(zhì)的損壞或故障造成數(shù)據(jù)丟失。（實(shí)現(xiàn)物理安全需定制、并可能需要第三方系統(tǒng)配合，詳情請聯(lián)系OMEC技術(shù)支持）

歐美克儀器為客戶供應(yīng)性能*、品質(zhì)穩(wěn)定的檢測儀器，更有專業(yè)用心的售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)隨時待命，提供及時而周到的技術(shù)支持服務(wù)。