XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計,搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統,以及高敏變焦測距裝置,對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。?檢測各種金屬鍍層,檢出限可達0.005μm,最小測量面積0.2mm2,凹槽深度測量范圍可達0-30mm,是一款測量鍍層厚度性價比好、適用性不錯的機型。
為什么選擇XU-100鍍層測厚儀品牌?
1.下照式設計
可以快速方便地定位對焦樣品。
2.高精密微型移動滑軌
快速精準定位樣品。
3.微焦X射線裝置
最小檢測面積可達0.2mm2的樣品,可進行各類電鍍層膜厚檢測。
高效率正比接收器即使測試0.2mm2的樣品,幾秒鐘也能達到穩定性。
4.變焦裝置算法
可對各種異形凹槽進行檢測,凹槽深度測量范圍可達0-30mm。
5.*的EFP算法
多層多元素,包括有同種元素在不同涂鍍層的檢測,都可以快、準、穩的做出數據分析。
XU-100鍍層測厚儀應用范圍:
儀器既可以方便無損地測量導電金屬上的非導電涂層的厚度,比如鋁、銅、鋼上面的防腐層的厚度,也可以導電磁性材料上的非導電涂層的厚度,比如鐵上面的油漆層的厚度。儀器針對大工件上面的超厚防腐涂層的測量作用不錯。
鍍層測厚儀該儀器廣泛應用于:電鍍層分析、緊固件行業、五金行業、汽車零部件、配飾厚度分析、電子元器件。
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