最近跟業界一位同仁討論了矢量的誤差模型及校準過程，簡單整理了一下，分享給大家，歡迎一起討論。

的誤差模型確實不太好理解，一般只有研發矢網或者專攻測試技術的人員才會深入探究。使用矢網測試之前，都是需要作系統誤差校準的，目的就是將測試裝置本身引入的誤差項修正掉，得到DUT真實的S參數。

系統誤差校準可分為單端口和雙端口系統誤差校準，前者主要用于測試單端口器件的反射系數及其衍生參數，后者主要測試雙端口器件的全S參數及其衍生參數。

單端口系統誤差校準包括OSM(open/short/match，有時稱為OSL——open/short/load)和歸一化校準。OSM校準屬于全單端口校準，可以修正全面的單端口測試涉及的誤差項，所以測試單端口器件時精度！反射歸一化校準，速度很快，但是只使用Open或者Short單個校準件，只能求解反射跟蹤一個誤差項，所以精度有限。

反射測試的基本過程：激勵源Source提供信號a1，經耦合器后大部分經矢網端口輸出至DUT；經DUT反射的信號經過耦合器的耦合路徑到達測量接收機Meas. Receiver. 由于矢網端口也存在反射，假設反射系數為S，那么在端口與DUT端口之間會存在多次反射，多次反射的量同樣也會經過耦合路徑進入Meas. Receiver. 此外，由于耦合器并不是理想的，所以其隔離度也是有限的，這導致激勵信號a1的一部分會經過耦合器的隔離通道直接饋入Meas.Receiver。

也就是說，Meas. Receiver接收到的信號b3實際包含三部分：DUT直接反射的信號，測試參考面處的多次反射信號，以及經耦合器隔離通道直接泄露的信號。

在列舉公式之前，再簡單介紹一下圖中的標識參數：耦合器本身有4個端口，但是考慮到該模型中只涉及耦合器的部分參數，所以此處將其等效為3端口器件，端口分別為port1、port2、和port3. S₂₁是指耦合器的直通傳輸系數，S₃₁是指泄露通道的傳輸系數，S₃₂是指耦合通道的傳輸系數。