多導毛細聚焦XRF測試作為常用測試之一, 但仍有許多朋友不太了解其工作原理,本篇文章主要給大家介紹X射線熒光光譜儀工作原理。接下來和一六儀器一起了解一下。

　　X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。-個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子(如K層)在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,釋放出來,電子的逐放會導致該電子殼層出現相應的電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子(如:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X射線熒光(XRF)。元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有-定特殊性波長的X射線,根據莫斯萊定律,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關,其數學關系如下:

　　λ=K(Z- S)-2

　　式中K和S是常數。而根據量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為:

　　E=hv=h C/λ

　　式中，E為X射線光子的能量，單位為keV ; h為普朗克常數; v為光波的頻率; C為光速。因

　　此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類, 這就是熒光X射線定性分析的基礎。將樣品中有待分析的各種元素利用X射線轟擊使其發射其特征譜線,經過狹縫準直,使其近似平行光照射到分光晶體上,對己知其面間距為d的分光晶體點陣面上的輻射加以衍射。依據布拉格定律,適用公式nλ=Zdsinθ。

　　對于晶體的每一種角位置, 只可能有一種波長的輻射可被衍射, 而這種輻射的強度則可用合適的計數器加以測量。分析樣品時,鑒定所發射光譜中的特征譜線就完成了定性分析;再將這些譜線的強度和某種適當標準的譜線強度進行對比，就完成了定量分析。

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