在上一期的內(nèi)容中，主要介紹了耐電壓試驗與部分放電試驗這兩種絕緣評價試驗的基本定義。

在這一期會更深入的來介紹一下部分放電試驗。

部分放電試驗

部分放電是絕緣體的一部分發(fā)生局部破化的放電現(xiàn)象。這種現(xiàn)象主要發(fā)生在絕緣體間隙 (間隙、void、gap、氣泡等)中的空氣放電。而電暈放電在廣義上也是局部放電的一種。

在通常情況下，空隙是由空氣等的氣體所形成，由于其尺寸非常小，所以空隙的靜電容量也很小。在電極間施加電壓后，在靜電容量非常小的空隙部分會受到很大的電壓。在此類微小的空隙中施加高電壓后，超過空氣的破壞電解而放電的現(xiàn)象被稱為部分放電。

部分放電試驗的持續(xù)性

一旦發(fā)生放電后，間隙間就會被短路，放電也會被立即中止。因此，對于測試電壓是直流還是交流會有很大的變化。

如下圖所示，當(dāng)Vt為交流時，vg會馬上再次上升? 再次達到破壞電解，再進行放電當(dāng)Vt為直流時，vg則不會發(fā)生變化，所以很難再發(fā)。

作為結(jié)論，發(fā)生部分放電時會呈現(xiàn)脈沖狀，并且比起直流，使用交流進行試驗會更容易的檢測出部分放電。

為何要進行部分放電試驗

在耐電壓試驗中，對被測物施加高交流電壓，檢測被測物絕緣破壞時流動的泄漏電流，從而判斷合格/不合格。也就是說被視為"絕緣破壞 ＝ 電流增加"來處理，所以在試驗中不合格的被測物在大多情況下都處于被損壞并且無法復(fù)原的狀態(tài)。

另外，在耐電壓試驗中沒有擊穿 (電流增加)的情況下，即使存在導(dǎo)致絕緣不良的空隙，也可判斷為合格品。另一方面，部分放電試驗為捕捉絕緣發(fā)生前的電荷量增加，因此在多數(shù)情況下被測物不會被破壞。

部分放電試驗與絕緣破壞的關(guān)系

部分放電試驗是調(diào)查絕緣物的絕緣狀態(tài)的有效手段。而這兩者間的關(guān)系可參考下圖。

當(dāng)對被測物的施加電壓逐漸上調(diào)后，首先會進入放電開始(A)的狀態(tài)。之后產(chǎn)生火花并轉(zhuǎn)移至電弧放電，最終達到絕緣破壞。之后會先進入B~C的穩(wěn)定區(qū)域部分，但從C~D的部分，則會發(fā)生部分放電的激增，最終導(dǎo)致絕緣破壞。

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本文來源于KIKUSUI菊水

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