EDXRF測厚儀可用于檢測多層的成分及厚度，除了計算單層物質的成分分析還要去計算多層成分及厚度，同時會遇到微小的樣品位置、復雜的樣品的形狀(改變形狀再測試厚度會變化)、上下層有相同元素等等檢測難題，所以它比其它EDXRF應用更加復雜，這也是為什么EDXRF做ROHS重金屬、合金分析、貴金屬檢測等等的廠家很多，做測厚儀的很少、做得很好的比較少的原因。那測厚儀應該如何劃分呢?跟著測厚儀廠家一六儀器來了解一下吧。

　　測厚儀異形樣品檢測區分：

　　有對焦無變焦：只能測試平面樣品或者固定凹槽深度的異形件。

　　有變焦：能測試平面樣品及0-90mm凹槽落差異形樣品。

　　有對焦有變焦：能快速測試平面樣品，以及凹槽深度0-90mm落差的各種異形面，凹槽件。

　　測厚儀測量面積參數劃分：

　　普通手持式測厚儀：常見的手持式測厚儀檢測直徑是5mm;

　　常規X-RAY測厚儀：常規的X-RAY測厚儀檢測直徑是0.5 mm;

　　專業級X-RAY測厚儀：專業級的X-RAY測厚儀可小到0.05 m㎡;

　　毛細孔百萬級測厚儀：毛細孔聚焦配置的X-RAY測厚儀可小到0.02mm(價格近百萬);

　　測厚儀測量涂鍍層種類(算法)

　　第1代：經驗系數法EC

　　需要選用大量標樣來校正元素之間的吸收增強效應，樣品成分越復雜，所需的標樣越多。特點：在測試多層和多元復合層時比較困難，測量種類局限，加上需要多標樣來校正，應用成本高。

　　第2代：基本參數法FP

　　主流計算方法，一般需要配合標樣進行計算。

　　特點：無法測試重復鍍層和非金屬輕金屬鍍層。

　　第3代：

　　多元迭代法EFP算法

　　隨著計算機運算能力提升，一六儀器在多種算法的基礎上，通過計算元素的一次、二次、靶材熒光，吸收增強效應和散射背景等多元迭代開發出EFP核心算法。優點：只需要少量的標樣來校正儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

　　以上就是光譜測厚儀生產廠家一六儀器給大家整理的全部內容，如果大家想要了解更多關于光譜測厚儀的內容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售和服務。公司產品廣泛的應用于環保、涂鍍層、糧食、地質地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領域。