激光測厚儀使用進口超高速高精度CMOS激光位移傳感器,固定在C型架端部進行非接觸對射式測量。
在生產過程中,大理石C型架帶動激光探頭來回掃描,掃描過程中不斷采集膜片厚度數據,采樣率為50kHz。每次掃描可采集數萬組數據,經過算法分析濾除電磁干擾及厚度異常數據(如涂布間隙的箔材、膠帶或其他超薄超厚數據),然后分成若干分區顯示。同時通過EWMA算法和MA算法計算出膜片的橫向與縱向厚度趨勢,以線性圖或柱狀圖的形式顯示出來。還可以顯示出膜片整體厚度的3D圖像,并把掃描的厚度數據會保存成CSV表格。
在掃描過程中,每若干周期會掃描校準片進行一次自校準(自校準的頻率可調,一般掃描8趟或更多自校準一次),保證設備長期穩定運行。
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