隨著制造業的發展,業內對材料的要求越來越高,材料加工市場越來越大,材料的涂鍍層種類也變的更加繁多,質量要求也逐漸增加。市面上有很多膜厚測試的儀器，如今應用比較多的是X射線熒光光譜測厚儀，那X射線熒光光譜測厚儀在進行膜厚測試的時候有哪些特點呢?今天就和X射線熒光光譜測厚儀生產廠家一六儀器的小編來說一說吧。

　　X射線熒光光譜測厚儀測試原理：使用X射線進行波譜測量，進而換算厚度，精度高 ，速度快，視機種可測試3-5層以上膜厚， 0.1mmψ以下面積也可測量。多層合金的成分含量也能計算。

　　X射線熒光光譜測厚儀有哪些特點呢?

　　1.價格高，機種不同，價格在10萬~100萬左右，可測試P(磷)~U(鈾)，并且支持Rohs及元素分析功能等。

　　2.無損檢測，Windows操作系統，使用簡便。操作快速，能適應多類鍍層，大量檢測，但體積較大，計算機除外約100000cm2，50000g左右。

　　3.測量厚度范圍較廣， 0.002um~100um左右，能測試5層以上膜厚，并且可以測量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。

　　4.測量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

　　5.測頭的面積較小，對需測的樣品要求不高：0.1mmψ以下也可測量，基材厚度無要求。

　　6.可編程XYZ測量臺及大移動范圍。

　　以上就是X射線熒光光譜測厚儀廠家一六儀器對于X射線熒光光譜測厚儀的相關介紹，如果你想要了解更多內容，歡迎聯系我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售和服務，在微小面積、異形高低面探測、多層多元素與多層同元素的檢測上，都具備更佳的表現。