根據(jù)實(shí)際測(cè)量工作原理，涂層材料厚度計(jì)有磁測(cè)厚儀、渦流測(cè)厚儀、超聲波機(jī)械測(cè)厚儀、電解測(cè)厚儀、輻射測(cè)厚儀五種。目前，常用的方法是1,2法。熔覆層的厚度我們可以同時(shí)通過(guò)熔覆層的厚度來(lái)測(cè)量，即熔覆層的厚度。所以企業(yè)只要滿(mǎn)足包層與基材的磁導(dǎo)率差足夠大，就可以進(jìn)行測(cè)量得到包層的厚度。

磁感應(yīng)強(qiáng)度的原理是通過(guò)流入鐵磁基板的探針通過(guò)非鐵磁覆層的流量來(lái)確定鐵磁基板的厚度。由于它是一種電子儀器，易于校準(zhǔn)，可以實(shí)現(xiàn)多種功能，擴(kuò)大范圍，提高精度。由于試驗(yàn)條件可以大大減少，它比磁吸式應(yīng)用更為廣泛。

厚度計(jì)采用渦流原理，原則上可以通過(guò)將非導(dǎo)電涂層涂到所有導(dǎo)電體上，如航天飛機(jī)、車(chē)輛、家用電器、鋁門(mén)窗等鋁表面的涂層、塑料涂層和陽(yáng)極氧化物薄膜，進(jìn)行測(cè)量。一些特殊應(yīng)用是金屬表面的金剛石電鍍和其他非導(dǎo)電涂層。

涂層材料也可以導(dǎo)電，可以通過(guò)校準(zhǔn)來(lái)測(cè)量，但兩者之間的差異至少需要3-5倍(如鍍銅鍍鉻)。校準(zhǔn)原理是樣品分析物要針對(duì)非涂層和基體進(jìn)行校準(zhǔn):成分相同，厚度小于儀器最小值(0.5 mm左右)，曲率半徑相同。如果測(cè)量面積小于儀器的技術(shù)參數(shù)(直徑20 mm左右)，也應(yīng)該有相同的面積進(jìn)行測(cè)試。如果包層包含導(dǎo)電元素，校準(zhǔn)樣品的包層應(yīng)與被測(cè)物體的包層具有相同的電導(dǎo)率。經(jīng)過(guò)其他測(cè)試(包括有損測(cè)試法)或使用校準(zhǔn)后的校準(zhǔn)芯片作為涂層后，可以按照上述方法校準(zhǔn)校準(zhǔn)樣品的厚度。